Research

분석 장비 관련 정보입니다.

FE-SEM

Scanning Electron Microscope 

주사 전자 현미경

모델명은 Hitachi 사의 FE-SEM S-4800으로 나노소자와 나노물질의 구조를 관찰하는 목적으로 사용한다.

최대 resolution은 1nm 이하이며 유기물도 고배율에서 관찰이 가능하다.

Detector는 4개로 구성되어 있으며 Upper Detector, Lower Detector, X-ray Detector, STEM Detector가 있다.

이를 통하여 SE,BSE,X-ray를 detect하여 선택적인 관찰이 가능하다.

FE-SEM S-4800의 자세한 사양은 다음과 같다.