Paper Review

2. Femtosecond Laser ablation of polypropylene for breathable film

https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2008.01.166

1. Characterization of Polymer Surfaces by (TOF-SIMS)Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

비행시간형 이차이온질량분석(TOF-SIMS) 장비를 이용한 고분자 표면분석 및 최근 동향

https://www.cheric.org/PDF/PST/PT24/PT24-5-0528.pdf

최근 고체물질 연구의 중요한 부분을 차지하고 있는 것은 재료의 표면 측정 및 분석이다. 고체 물질의 표면성분은 기초 과학 뿐만 아니라 산업발전 및 여러 기술 응용분야에 매우 중요한 역할을 차지하고 있다.고분자를 포함한 다양한 고체물질의 복잡한 성분의 특성분석은 표면 측정 기술에 의해 상당히 향상되어왔으며 표면분석의 여러가지 방법들이 개발되어 거의 모든 종류의 유기, 무기 물질들을 성공적으로 확인, 규명하고 있다.

SIMS는 일정한 에너지를 가진 일차 이온을 고체표면에 입사시킨 후 방출되어 나오는 이차 이온의 질량을 측정하므로써 재료표면을 구성하고 있는 원소 및 분자의 종류, 그리고 존재량을 분석하는 장비이다. SIMS 개발에 비행시간형 질량분석관을 갖춘 SIMS로 극표면에 있는 성분분석을 수행하고 최근 클러스터 이온빔 기술을 적용하므로써 미세영역에서 높은 감도와 분자이온의 이미지 및 깊이분포도를 측정하는 SIMS 기술을 향상시키고 있다.

TOF질량분석관을 가진 SIMS는 표면과 계면의 화학적 성분이 중요한 역할을 하는 모든 재료 및 소자 분야에 성공적으로 활용하고 있다. 표면분석에 SIMS의 사용은 다른 표면 분석장비에 비하여 우수한 감도가 특징이며, TOF-SIMS는 고분자를 포함한 모든 시료에 적용할 수 있다는 것이다. TOF-SIMS의 분석적 능력은 고분자 재료내의 원소나 분자의 미량적 분석 분야에서의 발전이 기대되어지고 있다. 극미세 영역에 존재하는 극미량 물질의 측정과 확인이 필수적인 나노과학 분야의 활용을 넓히기 위해서는 더 작은 빔 크기를 갖고 초점이 맞추어진 이온건과 나노 재료의 취급기술에 앞으로 상당한 발전이 병행되어야 한다.