Publications

Seokho Kang, Seon-Kyeong Seong, Eunha Sohn, Kim, Jiyoung Kim, and Jaewoong Shim* (2025), "Frost forecasting via weakly-supervised semantic segmentation of satellite imagery", GIScience & Remote Sensing, 62(1), 2496013.

Jaewoong Shim, Seokho Kang* (2025), "Why does this query need to be labeled?: Enhancing active learning through explanation-based interventions in query selection", Expert Systems with Applications, 290: 128443. 

Sungho Lee, Jaewoong Shim* (2024), “Environmentally-Robust Defect Classification With Domain Augmentation Framework”, IEEE Access, 12: 122684-122694.

Han Kyul Kim, Jaewoong Shim* (2024), “Generalized zero-shot learning for classifying unseen wafer map patterns”, Engineering Applications of Artificial Intelligence, 133: 108476.

Jaewoong Shim, Seokho Kang* (2023), “Learning from single-defect wafer maps to classify mixed-defect wafer maps”, Expert Systems with Applications, 233: 120923.

Jaewoong Shim, Seokho Kang* (2022), “Domain-Adaptive Active Learning for Cost-effective Virtual Metrology Modeling”, Computers in Industry, 135: 103572.

Jaewoong Shim, Sungzoon Cho*, Euiseok Kum, Suho Jung (2021), “Adaptive Fault Detection Framework for Recipe Transition in Semiconductor Manufacturing”, Computers & Industrial Engineering, 161: 107632.

Jaewoong Shim, Seokho Kang, Sungzoon Cho* (2021), “Active inspection for cost-effective fault prediction in manufacturing process”, Journal of Process Control, 105: 250-258.

Jaewoong Shim, Seokho Kang, Sungzoon Cho* (2021), “Active cluster annotation for wafer map pattern classification in semiconductor manufacturing”, Expert Systems with Applications, 183:115429.

Jaewoong Shim, Seokho Kang, Sungzoon Cho* (2020), “Active learning of convolutional neural network for cost-effective wafer map pattern classification”, IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 33 (2): 258-266.

Seokho Kang, Eunji Kim, Jaewoong Shim, Wonsang Chang, Sungzoon Cho* (2018), “Product failure prediction with missing data”, International Journal of Production Research, 56 (14): 4849-4859.

Seokho Kang, Eunji Kim, Jaewoong Shim, Sungzoon Cho*, Wonsang Chang, Junhwan Kim (2017), “Mining the relationship between production and customer service data for failure analysis of industrial products”, Computers & Industrial Engineering, 106: 137-146

박정원, 심재웅* (2025), "Attention 기반 변수 간 상호작용 변화 탐지를 통한 설명 가능한 시계열 이상 탐지",  대한산업공학회 춘계공동학술대회, 제주, 6월 18일

김나연, 이성호, 심재웅* (2025), "변화하는 제조 환경에서의 미세 결함 분류를 위한 테스트 시점 도메인 적응", 대한산업공학회 춘계공동학술대회, 제주, 6월 18일

박정원, 최봉준, 강형석, 심재웅* (2024), "레이블 노이즈를 고려한 SSD 고장 감지 모델 구축", 한국데이터마이닝학회 춘계학술대회, 서울, 5월 30일

배소희, 김지원, 심재웅* (2024), "이상 탐지를 위한 Knowledge Distillation기반의 Active Learning", 대한산업공학회 춘계공동학술대회, 여수, 5월 3일

배소희, 이성호, 심재웅* (2023), "초기 데이터 부족으로 발생하는 Coldstart 문제 해결을 위한 CLIP 기반 Active Learning", 한국데이터마이닝학회 추계학술대회, 서울, 11월 7일

박정원, 최봉준, 양정열, 강형석, 심재웅* (2023), "노이즈 레이블 환경에서 대조학습을 이용한 SSD 고장예측", 한국데이터마이닝학회 추계학술대회, 서울, 11월 7일

허준봉, 손민혁, 심재웅* (2023), "Knowledge Distillation for cost effective fault prediction in manufacturing process", 대한산업공학회 추계학술대회, 울산, 11월 3일

배소희, 김지원, 심재웅* (2023), "지도학습 기반 불량 탐지 모델을 위한 능동학습 초기화 방법론", 대한산업공학회 추계학술대회, 울산, 11월 3일

이성호, 심재웅* (2023), "환경 변화에 강건한 불량 탐지 모델 구축을 위한 도메인 일반화 프레임워크", 대한산업공학회 춘계공동학술대회, 제주, 6월 1일

이성호, 심재웅* (2022), "TDOA 확률화 이미지를 활용한 강건한 타겟 추적 모델", 한국데이터마이닝학회 하계학술대회, 부산, 8월 26일