細川  利典

学歴

1983年4月 明治大学工学部電子通信工学科入学

1987年3月 明治大学工学部電子通信工学科卒業

2001年6月 明治大学大学院理工学研究科より博士(工学)を授与

・学位論文 - 『回路構造に基づくパーシャルスキャン設計ならびにテスト生成に関する研究』

職歴

1987年4月 松下電器産業株式会社半導体研究センター入社

2000年5月 株式会社半導体理工学研究センター出向

2001年4月 明治大学理工学部兼任講師着任

2003年3月 明治大学理工学部兼任講師退任

2003年6月 松下電器株式会社帰任

2003年8月 松下電器株式会社退職

2003年9月 日本大学生産工学部数理情報工学科助教授

2009年4月 日本大学生産工学部数理情報工学科教授

学会並び社会における活動

(1)社団法人日本電子機械工業会　先端設計技術調査研究委員会　委員

　(1999年5月14日　～　2000年1月21日)

(2)半導体産業研究所　SoC先端設計技術検討会　委員

　(1999年5月14日　～　2000年1月21日)

(3)IEEE　The 11th Asian Test Symposium　　Industrial Arrangement Chair

　(2001年4月7日　～　2002年11月20日)

(4)社団法人電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会　専門委員会　 委員

　(2003年2月22日　～　2004年5月28日)

(5)IEEE The 5th Workshop on RTL and High Level Testing　　Publicity Chair

　(2003年5月7日　～　現在に至る)

(6)社団法人電子情報通信学会　ディペンダブルコンピューティング研究会　専門委員会　幹事

　(2004年5月29日　～　現在に至る)

(7)IEEE The 15th Asian Test Symposium　　Publications Chair

　(2004年9月16日　～　現在に至る)

(8)その他

　国際 学会(Asian Test Symposium , Asia and South Pacific Design 　Aoutomation Conference , 　Workshop on RTL and High Level Testing)　プログラム委員

　電子情報通信学会英文論文誌A,D編集委員

　電子情報通信学会和文論文誌DⅠ編集委員

(9)所属学会:IEEE(Computer Society)、情報処理学会(システムLSI設計技術研究会)、電子情報通信学会(ディペンダブルコンピューティング研究会)

(10)第5回情報科学技術フォーラム　FIT2006　担当委員

　(2005年10月1日　～　2006年9月30日)

(11)2005年度IEICE英文誌A小特集号「VLSI設計CADアルゴリズム」　編集委員

　(2005年1月15日　～　2005年10月31日)

(12)IEEE The 15th Asian Test Symposium,ATS'06　　Publications Chair

　(2004年11月1日　～　2006年12月31日)

(13)第4回情報科学技術フォーラム　FIT2005　プログラム委員

　(2004年10月1日　～　2005年9月30日)

(14)2004年度電子情報通信学会和文論文誌 DI 「LSIのテスト・検証・診断技術」特集号　編集委員

　(2004年7月15日　～　2005年2月28日)

(15)電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会　幹事

　(2004年5月15日　～　2007年5月14日)

(16)2004年度IEICE英文誌A小特集号「VLSI設計CADアルゴリズム」　編集委員

　(2004年1月15日　～　2004年10月31日)

(17)IEEE The 5th Workshop on RTL and High Level Testing,WRTLT04　　Publications Chair

　(2003年9月1日　～　2004年12月31日)

(18)IEEE The 9th Asia and South Pacific Design Automation Conference,ASP-DAC2004　　Program Comitee

　(2003年3月1日　～　2004年2月28日)

(19)電子情報通信学会　専門委員

　(2003年2月1日　～　2004年5月14日)

(20)2003年度IEICE英文誌A小特集号「VLSI設計CADアルゴリズム」　編集委員

　(2003年1月15日　～　2003年10月31日)

(21)2003年度IEICE英文論文誌D「VLSIのテスト・検証」小特集号　編集委員

　(2003年1月15日　～　2003年11月30日)

(22)IEEE The 12th Asian Test Symposium,ATS'03　　Program Comitee

　(2002年11月1日　～　2003年11月30日)

(23)IEEE The 4th Workshop on RTL and High Level Testing,WRTLT03　　Program Comitee

　(2002年11月1日　～　2003年11月30日)

(24)2002年度IEICE英文論文誌D「VLSIのテスト・検証」小特集号　編集委員

　(2002年9月16日　～　2002年10月15日)

(25)IEEE The 8th Asia and South Pacific Design Automation Conference,ASP-DAC2003　　Program Comitee

　(2002年3月1日　～　2003年2月28日)

(26)IEEE The 3th Workshop on RTL and High Level Testing,WRTLT02　　Program Comitee

　(2001年11月1日　～　2002年11月30日)

(27)IEEE The 11th Asian Test Symposium,ATS'02　　Industrial Arrangement Chair

　(2001年7月1日　～　2002年12月31日)

(28)IEEE The 10th Asian Test Symposium,ATS'01　　Program Comitee

　(2000年11月1日　～　2001年11月30日)

(29)IEEE The 2th Workshop on RTLATPG & DFT,WRTLT01　　Program Comitee

　(2000年11月1日　～　2001年11月30日)

(30)IEEE The 1th Workshop on RTLATPG & DFT,WRTLT00　　Program Comitee

　(2000年1月15日　～　2000年9月30日)