Publications

Conference

  • Constrained Detecting Arrays for Fault Localization in Combinatorial Testing, Hao Jin, Ce Shi, Tatsuhiro Tsuchiya, In The 35th ACM/SIGAPP Symposium On Applied Computing, SAC'20, Brno, Czech Republic, March 30-April 3, 2020;

  • Deriving Fault Locating Test Cases from Constrained Covering Arrays, Hao Jin, Tatsuhiro Tsuchiya, 2018 IEEE 23rd Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, PRDC2018, Taipei, Taiwan, December 4-7, 2018;

  • A Satisfiability-Based Approach to Generation of Constrained Locating Arrays, Hao Jin, Takashi Kitamura, Eun-Hye Choi, Tatsuhiro Tsuchiya, 2018 IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops, ICST Workshops, Västerås, Sweden, April 9-13, 2018;

Article

研究会

  • 大規模構成可能システムに対する乱択テストと組合せテストの網羅率傾向の比較研究,Hao Jin,Takashi Kitamura,Eun-Hye Choi,Tatsuhiro Tsuchiya, 第26回 ソフトウェア工学の基礎ワークショップ FOSE2019,下呂市,11月28日-30日,2019;

  • ソフトウェアテストのための制約付きディテクティングアレイの提案とSMTソルバを用いた生成,金 浩,史 冊,土屋 達弘,知能ソフトウェア工学研究会,小樽市,7月12−14日,2019;

  • カバリングアレイの事後最適化による組み合わせテストでの不具合特定の実現,金 浩,土屋 達弘,知能ソフトウェア工学研究会,帯広市,7月18−20日,2018;

  • SMTを用いた制約付きロケーティングアレイの生成について,金 浩,崔 銀惠,土屋 達弘,ディペンダブルコンピューティング研究会,高知市,10月19−20日,2017;