Microscopia Eletrônica de Varredura  (MEV-FEG)

Microscópio Eletrônico de Varredura (FEG) 

O Microscópio Eletrônico de Varredura (Scanning Electron Microscope, SEM), JSM-IT700HR, é equipado com canhão de elétrons FEG Schottky e opera com tensão de aceleração entre 500 V e 30 kV. O JSM-IT700HR permite a aquisição de imagens de elétrons secundários (SE), retroespalhados (BSE) e transmitidos (STEM), com uma resolução máxima de 1 nm e uma corrente máxima de sonda de 300 nA. O equipamento possui detector para espectroscopia de raios X dispersiva em energia (EDS) para a realização de análises de composição química e apresenta duas configurações de operação disponíveis: 1) JSM-IT700HR / LV para observação de imagens de alto e baixo vácuo, 2) JSM-IT700HR / LA com sistema JEOL EDS integrado adicional. 

Especificações: 

1. O canhão de elétrons de emissão de campo Schottky na lente permite observação de imagens em alta definição e análise de alta resolução espacial. 

2. A função Zeromag, que vincula imagens de gráficos de suporte, CCD e SEM, facilita a navegação de amostras. 

3. Com a “série analítica” da JEOL (função Live Analysis), o sistema EDS integrado exibe um espectro EDS em tempo real durante a observação da imagem, para uma análise de elementos eficiente. 

4. Uma nova função para exibir a profundidade da análise (profundidade característica de geração de raios-X) suporta análises elementares rápidas. 

5. O SMILE VIEW™ Lab, que permite o gerenciamento integrado de dados de imagem e análise, facilita a geração de relatórios para todos os dados, desde imagens SEM coletadas até resultados de análises elementares.