Microscopia e Nanofabricação
O que é a técnica de MEV?
Assim como qualquer microscópio, a função primária do microscópio eletrônico de varredura (MEV) é ampliar pequenos recursos ou objetos que de outra forma seriam invisíveis à visão humana. Ele faz isso por meio do uso de feixe de elétrons em vez de luz, que é usada para formar imagens em microscópios de luz ótica. As imagens são obtidas por meio da varredura de um feixe de elétrons de alta energia na superfície da amostra, daí o nome de microscópio eletrônico de varredura. Em virtude de seu comprimento de onda menor, os elétrons são capazes de resolver características/detalhes mais finos de materiais em uma extensão muito maior em comparação com a luz óptica. Um MEV moderno pode ampliar objetos em até um milhão de vezes seu tamanho original e pode resolver características menores que 1 nm em dimensão. Da mesma forma, a interação do feixe de elétrons com a amostra emite raios-X com energia única, que podem ser detectados através da técnica de EDS, determinando a composição elementar do material analisado. Os elétrons retroespalhados (BSE) são elétrons refletidos da amostra por espalhamento elástico. As imagens por BSE podem fornecer informações sobre a distribuição de diferentes elementos na amostra de acordo com seu número atômico. Já os canhões de emissão de campo no MEV (FEG) permitem uma resolução e ampliação mais altas, que é amplamente utilizado em nanotecnologia e campos biomédicos. E o feixe de íon focalizado (FIB) são capazes não somente de interagir com o material e gerar importantes fontes de informação sobre sua topografia e composição química, mas também de usiná-lo, sendo possível em muitos casos preparar e visualizar superfícies em um único equipamento.
Referência: A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy, 2018
Nossos MEVs
Marca: Tescan
Modelo: MIRA3
Fonte: Feixe de elétrons por emissão de campo (FEG)
Módulos: EDS (Oxford Instruments)
Status: EQUIPAMENTO EM MANUTENÇÃO
Marca: JEOL
Modelo: JSM-5900
Fonte: Filamento de tungstênio (W)
Módulos: EDS
Status: EQUIPAMENTO DEFEITUOSO
Nosso Microscópio Óptico de Luz Refletida (MLR)
Marca: Zeiss
Modelo: Axio Scope.A1
Câmera: AxioCam ICc 5
Software de imagem: Axio Vision
Lentes: 5, 10, 20, 50 e 100x
Status: EQUIPAMENTO FUNCIONANDO
Nosso FIB - Litografia, Nanofabricação e Nanomanipulação
Marca: Zeiss
Modelo: Auriga
Fonte: Feixe de elétrons (FEG) e íon focalizado (FIB)
Módulos: Litografia por feixe de íons (ILB) para preparo de amostras e escrita direta (DWL)
Status: EQUIPAMENTO FUNCIONANDO
Agenda
Confira abaixo a disponibilidade do técnico responsável ou de apoio para:
entrega e retirada de amostras,
agendamento de acompanhamento de análise e
demais informações.
Estatístícas (2011-Atual)
EM BREVE
Nossa Equipe
Prof. Anderson Amaral
Coordenador do Laboratório de Microscopia e Nanofabricação
Sérgio Santos
Técnica do Laboratório de Microscopia e Nanofabricação