令和7年12月4日（木），5日（金） オンライン開催
主催：公益社団法人日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会
協賛（予定含む）：軽⾦属学会、⽇本⾦属学会、⽇本材料学会、触媒学会、⽇本熱処理技術協会、
⽇本表⾯真空学会、⽇本鉄鋼協会、 ⽇本分析化学会、応⽤物理学会、⽇本セラミックス協会、⽇本物理学会
分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックスについて講演が行われます。
初日午前の「チュートリアル」では、分析電顕の基軸となるEDS、EELS、STEMの基礎について詳しい講演がなされます。午後のトピックセッションでは、「分析TEMの実践」に焦点をあてて、より実践的な分析TEM利用についてのノウハウやその応用例を装置メーカー講師の方よりご紹介いただきます。
二日目午前は「試料作製」に関するチュートリアル講演、午後のトピックセッションでは「(S)TEMによるひずみ解析の最先端」に関する講演がなされます。
分析電顕に関わる活発な討論の機会となりますよう奮ってご参加ください。
【参加費（予稿集含む）】
顕微鏡学会員及び協賛学会員(個人会員) 3,000円、非会員 4,000円、学生 1,000円
※参加費はすべて10%税込となります。
【参加申込方法】
参加申し込みは⽒名、勤務先、所属、住所、電話番号、Fax番号、e-mailアドレス、申込資格（会員・協賛学会員・学⽣・⾮会員）をご記⼊の上、e-mailにて下記連絡先へお申し込み下さい。
参加費のお⽀払⽅法などについては折り返しご連絡差し上げます。
【プログラム（2025.8.9現在）】
12月4日（木）
チュートリアル（座長：佐藤庸平（東北大学））
9:30-10:10 EDSの基礎 川畑正伸（アメテック）
10:10-10:50 EELSの基礎と応用 吉川純（物質・材料研究機構）
10:50-11:30 STEM位相法の基礎 関岳人（東京大学）
（休憩10分）
11:40-12:00 Q&A
トピックス１：分析TEMの実践（座長：朝山匡一郎（日本電子））
13:30-14:10 実践STEM講座 奥西栄治（日本電子）
14:10-14:50 実践EDS講座 松本弘昭（日立ハイテク）
14:50-15:30 EELSの基礎と実践 中西伸登（サーモフィッシャーサイエンティフィック）
（休憩10分）
15:40-16:00 Q&A
12月5日（金）
試料作製（座長：矢口紀恵（日立ハイテク））
10:00-10:30 試料作製方法 谷口俊介（日本製鉄）
10:30-11:00 FIB-SEMとEBSDを用いた特定方位からのTEM試料作製 ～大気非曝露環境下
三平智宏（日本電子）
11:00-11:30 ソフトマテリアルのための電子顕微鏡用試料作製 中山智香子（日本電子）
（休憩10分）
11:40-12:00 Q&A
トピックス２：(S)TEMによるひずみ解析の最先端（座長：村上恭和（九州大学））
13:30-14:00 4D STEMを用いた歪み解析と各種技術 佐伯哲平（アメテック）
14:00-14:30 5D-STEMによるピコ秒音響波およびGHz音響分散計測 中村飛鳥（理化学研究所）
14:30-15:00 DM Pluginによるひずみ解析 ～GPA,PPA,HoloDark,sMoire～ 石塚顕在（HREM）
15:00-15:30 原子分解能STEM像からの高精度格子定数測定とその応用 佐藤幸生（熊本大学）
（休憩10分）
15:40-16:00 Q&A
【問い合わせ先】
分析電子顕微鏡分科会責任者 坂口紀史
北海道大学大学院工学研究院附属
エネルギー・マテリアル融合領域研究センター
〒060-8628 札幌市北区北13条西8丁目
E-mail: bunseki.touron.40[at]gmail.com
＊gmail宛に送信不可の方は以下のアドレスにご連絡ください。
sakaguchi[at]eng.hokudai.ac.jp