A fluorescência de Raios X (XRF) é uma técnica amplamente utilizada para a caracterização não destrutiva da composição química de objetos arqueológicos, geológicos e de arte. Nesse processo, utiliza-se uma fonte de excitação, como um tubo de Raios X ou fontes radioativas emissores de raios X ou raios gama, que emitem energias capazes de induzir o efeito fotoelétrico nos átomos do objeto analisado. Isso excita os níveis internos dos átomos, fazendo com que eles emitam Raios X característicos, que servem como uma "impressão digital" dos elementos químicos presentes na amostra. A partir dessas emissões, é possível identificar com precisão os elementos constituintes do objeto, fornecendo informações essenciais sobre sua composição, origem e processos de fabricação. A XRF é uma técnica valiosa no estudo de materiais arqueológicos e históricos, pois permite uma análise rápida e não invasiva, preservando a integridade dos objetos enquanto revela detalhes sobre sua estrutura química.
Imagens: J. Schenatto/LACAPC/USP
Exemplo de aplicação da técnica de FRX-DE sobre um ponto identificado como preto na obra "Desembarque de Pedro Álvares Cabral em Porto Seguro em 1500", pintada pelo artista brasileiro Oscar Pereira da Silva em 1900. Acervo: Museu Paulista, São Paulo. Na imagem, é apresentado o espectro de Fluorescência de Raios X detectado, no qual são identificados os elementos químicos presentes na região de medição.
As imagens foram retiradas da defesa de mestrado, pelo Instituto de Física da USP, de Júlia Schenatto: "Análises não invasivas de pinturas de cavalete do artista Oscar Pereira da Silva pertencentes ao acervo do Museu Paulista da USP ", 2023. DOI: D.43.2023.tde-17102023-215949