TÓPICOS
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Simetría en Cristales/Las Tablas Internacionales de Cristalografía
El Fenómeno de Difracción
Fundamentos de la Difracción de Rayos X de Polvos
Registro de Datos de Difracción de Rayos X de Polvos
Sesiones Prácticas en el Lab. de Rayos X
Preparación de Muestras/Identificación de Fases
Indexado y Modelaje del Patrón Completo
Determinación Estructural usando Datos de Difracción de Polvos
El Método de Rietveld-Fundamentos
El Método de Rietveld-Ejemplos
Análisis Cuantitativo usando el Método de Rietveld
Análisis Cristaloquímicos
Validación de Estructuras /Análisis /Archivos cif /Publicaciones