Embedded Files
מיקרוסקופ כוח אטומי מהיר תוצרת יפן
Tags: AFM, Atomic Force Microscope, Atomic force microscopy is a very high resolution scanning method, High Speed Atomic Force Microscope, HR AFM - Atomic Force Microscopes, HS AFM, Sample-Scanning High-Speed Atomic Force Microscope, דימות כוח אטומי, הדמייה באמצעות מיקרוסקופ כוח אטומי, מיקרוסקופ כוח אטומי המספק קבצי וידאו, מיקרוסקופ כוח אטומי מהיר, מיקרוסקופ כוח אטומי מהיר מאוד - הדמיית וידאו, מיקרוסקופית כוח אטומי, סרטונים מיקרוסקופ כוח אטומי מהיר מאוד
מיקרוסקופ כוח אטומי מהיר – שיווק בישראל
https://lnkd.in/dZXcvnkX
מיקרוסקופ כוח אטומי מהיר יוצר קבצי וידאו HS-AFM
Standard system consisting of Sample-Scanning
High-Speed Atomic Force Microscope with
standard scanner (scan speed: 50ms/frame, Max
scan range: XY : 0.7 μm × 0.7 μm, Z : 0.4 μm),
Control Electronics with rack, PC and monitors
with PC table, and vibration isolation table. 2
packs of Micro-cantilevers
Add-on module to enable force curve
measurement at arbitrary point and force mapping
measurement
Liquid perfusion unit
The observation solutions can be exchanged while
continuing AFM imaging. For example, this unit is
fit pH or ionic concentration of the observation
solutions
Illumination system
UV, visible and other excitation light is possible to
be used. Example of use: Caged ATP,
photoisomerizable molecule
Page updated
Google Sites
Report abuse