Nikkei News Paper 2013.4.2 (on Nano-artifact-metrics)

Post date: Apr 2, 2013 12:39:21 AM

東京大学、NICT、大日本印刷（株）、横浜国立大学の共同で行っているプロジェクトの成果がメディア掲載：

• 2013年4月2日、日本経済新聞(16面）、「偽造防ぐナノ刻印 --横国大など、 ＩＣカードなど対象」
• 大日本印刷（株）ニュースリリース
  • 横浜国立大学、情報通信研究機構、東京大学と共同でナノレベルのランダムパターンで個体認証する技術「ナノ人工物メトリクス」を開発
  • http://www.dnp.co.jp/news/10082528_2482.html

その他下記メディアでも報道されていました。

1. 2013年4月2日、Optronics、「DNP，横国大，NICT，東大，ナノレベルのランダムパターンで個体認証する技術「ナノ人工物メトリクス」を開発」、http://optronics-media.com/news/20130402/3866/
2. 2013年4月2日、日経電子版、「大日本印刷、横浜国立大などと共同で個体認証する技術「ナノ人工物メトリクス」を開発」、http://release.nikkei.co.jp/detail.cfm?relID=334252&lindID=4
3. 2013年4月2日、マイナビ、「DNPなど、ナノレベルのランダムパターンで個体認証する技術を開発」、http://news.mynavi.jp/news/2013/04/02/207/index.html
4. 2013年4月2日、印刷タイムス、「大日本印刷、横浜国立大学、情報通信研究機構、東京大学と共同で個体認証する技術を開発」、http://www.monz.co.jp/news/2013/04/02/6276
5. 2013年4月3日、Scan NetSecurity、「ダイジェストニュース」、http://scan.netsecurity.ne.jp/article/2013/04/03/31353.html
6. 2013年4月4日、社団法人日本印刷技術協会 Print-better、「大日本印刷/横浜国立大学，情報通信研究機構，東京大学と共同でナノレベルのランダムパターンで個体認証する技術「ナノ人工物メトリクス」を開発」、http://www.print-better.ne.jp/story_memo_view.asp?StoryID=18606