学内共通機器

共通分析室には様々な組織観察・構造解析・物性測定の装置があります。

ここでは、その内の中村研で使用する可能性のある装置を紹介します。

組織観察・構造解析

電界放出形走査電子顕微鏡

日立製 SU-8000

20万倍程度までの拡大組織観察ができます。二次電子像だけでなく、反射電子像も観察可能です。また、付属のエネルギー分散型分光分析にて元素分析も可能です。

走査型電子顕微鏡

日本電子製 JSM-6380LANV

1万倍程度までの拡大組織観察ができます。付属のエネルギー分散型分光分析にて元素分析も可能です。

走査型プローブ顕微鏡

SII製 SPA400

原子間力の相互作用を用いた顕微鏡で、数nm程度の像も観察可能です。絶縁性物質や柔らかい物質も観察可能です。探針の動かし方を変更することで摩擦力顕微鏡としても使用できます。

X線光電子分光装置

アルバックファイ製 PHI5000VPII

表面数nmの元素や官能基分析が可能で、それらの半定量も行えます。高温ステージも付属しています。また、UPSやオージェー分析も可能です。

X線回折測定装置

理学製 RINT2000

汎用の粉末X線回折装置で、結晶構造を調査することができます。

Raman分光測定装置

ThermoFisher製 NicoletAlmega XR

532nmと633nmにてRaman分光測定ができます。また、マクロとミクロの両方とも測定が可能です。

赤外分光測定装置

日本分光製 FT/IR-4100

汎用の赤外分光装置です。本研究室では通常反射で測定します。

物性測定

示差熱・熱重量分析装置

理学製 TG8120　窒素ガス、乾燥空気置換ユニット付

温度を変化させて、重量と温度差が測定できます。また、窒素ガスや乾燥空気ガスも流通させながら測定もできます。

振動試料型磁力計

玉川製作所製

室温にて磁化磁場曲線を測定できます。

吸着測定装置

カンタクローム製 AUTOSORB-1

窒素吸着等温線を測定することで、比表面積や細孔容量など細孔特性を解析できます。