【山手地区】連続ブロック表面走査型顕微鏡
【山手地区】連続ブロック表面走査型顕微鏡
SEMにミクロトームを搭載し、試料を自動的に連続切削・画像取得することで、 三次元構造解析を可能にするシステム
MERLIN
設置場所:山手2号館3階西 SBF-SEM室
メーカー:Zeiss/Gatan
加速電圧:0.1~30kV
ミクロトーム:3Veiw2XP(Gatan)
検出器:In-Lens 検出器、SE2、OnPoint 高感度BSE検出器(Gatan)
特徴:高速スキャン及び低加速電圧イメージングを可能にするOnPoint 検出器を搭載
ΣIGMA/VP
設置場所:山手2号館3階西 SBF-SEM室
メーカー:Zeiss/Gatan
加速電圧:0.1~30kV
ミクロトーム:3Veiw2XP(Gatan)
検出器:In-Lens 検出器、SE2、高感度BSE検出器(Gatan)
特徴:低真空(VP)モードに対応し、非導電性試料の観察が可能
高速スキャン及び低加速電圧イメージングを可能にする高感度検出器を搭載
IT800
設置場所:山手2号館1階西 電子顕微鏡室2
メーカー:日本電子/Gatan
入射電圧:0.1~30kV
ミクロトーム:3Veiw2XP(Gatan)
検出器:In-Lens 検出器、OnPoint 高感度BSE検出器(Gatan)
特徴:高速スキャン及び低加速電圧イメージングを可能にするOnPoint 検出器を搭載