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인코어테크놀로지(주)에서 발행한 이메일 홍보자료 및 각종 보고서 목록 입니다.
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자동화된 PCB 테스터를 사용하는 10가지 이유
자동화된 PCB 테스터를 사용하는 10가지 이유
10 Reasons To Use an Automated PCB Tester
10 Reasons To Use an Automated PCB Tester
1. PCB 시험의 다양성
1. PCB 시험의 다양성
ABI의 SYSTEM 8 모듈은 사실상 PCB상의 모든 유형의 아날로그 및 디지털 부품이나 회로에 대한 시험, 검사, 측정, 결함 발견 및 수리를 할 수 있는 전용의 모듈들입니다. 이러한 테스트는 PCB 레벨뿐만 아니라 컴포넌트 레벨까지도 수행될 수 있습니다.
2. 시험 기능별 모듈화 설계
2. 시험 기능별 모듈화 설계
현대 산업용으로 사용되는 많은 PCB에는 다양한 최신 기술과 디바이스, 인터페이스들을 포함하고 있습니다. ABI의 엔지니어들은 PCB 수리 기술자가 유사한 PCB 문제를 좀더 쉽게 해결할 수 있도록 SYSTEM 8 각 모듈에 유사한 시험 기능들로 구성해 일련의 테스트를 수행할 수 있도록 했습니다. 각 모듈은 사용자의 필요 또는 시험 요건에 따라 선택적으로 구성할 수 있습니다. 보드마스터 랙솔루션, 보드마스터 EC, 보드마스터 8000+, 고객 솔루션 등으로 구성됩니다.
(모듈) ATM의 경우 디지털IC에 대한 인서킷 기능과 유사 시험 기능을 묶어 다음과 같은 다양하고 광범위한 시험 기능을 제공는 모듈로 설계되었다.
Test capabilities: truth table tests with library (in/out of circuit), custom logic tests (all logic), PCB functional tests, connection tests, voltage tests, thermal tests, V/I tests, IC identification, short locator.
3. 진보된 V-I 커브 시험 기능
3. 진보된 V-I 커브 시험 기능
V-I Signature Analysis Test는 PCB에 전원이 공급되지 않은 상태에서 테스트할 수 있는 가장 일반적이고 안전한 방법입니다. V-I Signature Analysis는 주파수를 갖는 전압 신호를 장치에 인가하고 GND를 기준으로 현재 반응되는 전류를 측정하여 그래프로 표현하는 것을 말합니다. 이러한 형상을 통해 장치 또는 테스트 포인트의 누설 커패시터, 단락, 깨진 트랙, 내부적으로 손상된 부품 등과 같은 다양한 결함의 유형을 나타냅니다.
SYSTEM8 AMS 모듈의 경우 V-I 커브 측정이 진행되는 동안 출력 신호 주파수를 자동으로 변경할 수 있는 기능을 제공합니다. 결과는 3D로 표시되어 테스트 중인 장치나 부품, 회로, PCB에 대해 주파수가 미치는 영향을 보여줄 수 있습니다. 여러 가지 시험 파라미터를 조정할 수 있으며 좋은 상태의 보드에 대한 시험 결과를 나중에 비교할 수 있도록 양품 데이터로 저장할 수 있습니다. 원할 경우 실시간으로 좋은 보드와 나쁜 보드를 비교하는 기능도 제공합니다.
산업용 장비 수리를 위한 혁신적 시험기술 V-I Testing
4. 양품 데이터 비교 시험
4. 양품 데이터 비교 시험
PCB에 안전하게 전원이 공급 될 수 있다고 판단되면 PCB에 더 많은 추가 시험을 수행할 수 있습니다. 이러한 시험 결과는 나중에 비교할 수 있도록 양품 데이터로 저장됩니다.
에지 커넥터에서 로직 신호를 구동하고, 전압을 읽고, V-I 시그니처를 생성하고, 연결 정보를 저장할 수 있습니다.
만일 Fixture 지그 (Bed-of-Nails)를 사용할 수 있는 경우라면 다중의 테스트 포인트에서 동시에 결과를 얻을 수 있고 시험을 자동화 할 수 있습니다. 엣지 커넥터 시험을 통한 PCB 고장진단 및 예측과 관련하여 좀더 알아보시려면 아래의 자료를 참고해 보시기 바랍니다.
전자카드 PCB에 대한 체계적인 고장진단 방법과 고장 예측방안, 사례연구
5. 다양한 IC 패키지 시험 지원
5. 다양한 IC 패키지 시험 지원
ABI는 사실상 모든 유형의 IC 패키지에 대한 테스트 클립을 제공 할 수 있습니다. PCB 상의 IC에 대한 전압 상태, 연결 구성, V-I 시그니처 및 열 참조와 같은 작동중인 IC의 중요한 정보를 몇 초 만에 확인할 수 있고 저장할 수 있습니다. 부품 번호를 모르는 경우에도 시험을 수행할 수 있습니다.
7. 새로운 시험의 생성
7. 새로운 시험의 생성
SYSTEM 8 ATM 모듈이나 BFL 모듈에 있는 Graphical Test 생성기는 로직 디바이스 및 PCB를 위한 맞춤형 기능 테스트를 개발하는데 사용합니다. 각 채널은 시험 대상의 PCB 또는 커넥터, 핀 등의 장치에 대한 입 / 출력 요구 사항과 일치하도록 구성 할 수 있습니다. 이 시험기능은 디바이스나 PCB로부터 좋은 결과를 얻고 이를 저장하고 비교하여 건전성을 평가합니다.
8. 라이브러리
8. 라이브러리
수만의 IC 부품이 이미 SYSTEM 8 라이브러리에서 사용 가능하므로 회로 내에서 방대한 범위의 로직 IC를 기능적으로 테스트 할 수 있습니다.
9. 인서킷 테스팅
9. 인서킷 테스팅
아날로그 IC는 디바이스 라이브러리에서 부품을 선택하여 회로 내에서 (인서킷 시험) 기능적으로 똑같이 테스트 할 수 있습니다.
10. 소프트웨어 기반의 고사양의 계측 기능
10. 소프트웨어 기반의 고사양의 계측 기능
ABI의 SYSTEM 8은 3 채널의 고사양 오실로스코프, 2채널 임의 함수 발생기, 주파수 카운터, 디지털 멀티미터, 멀티 채널 I / O 등과 같은 다양한 내장형의 고사양 계측 기능을 제공합니다. 파형 설정, 테스트 결과, 계측기 설정, 테스트 흐름 및 절차, pdf 데이터시트, 이미지, 동영상 등을 저장할 수 있어 시험을 위한 준비 시간을 크게 단축시킬 수 있습니다.
SYSTEM8 MIS4 모듈은 다양한 정밀 계측을 지원하며 테스트 플로우 소프트웨어 상에서 이를 통합 운영이 가능합니다. 테스트플로우 매니저는 시험 자동화를 위해 각 모듈의 시험 기능을 통합하고 시험을 통제, 관리, 진행할 수 있습니다.
위 내용은 아래의 Alan Lowne (CEO Saelig Co. Inc.)의 블로그 내용을 참고해 작성된 글 입니다.
기사출처 http://saeligcoinc.blogspot.kr/2018/05/10-reasons-to-use-automated-pcb-tester.html
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