홍보 및 기술자료

사례연구 (Case Study)

특정 고객사 또는 산업분야에서 제품이 활용되고 있는 사례입니다.

아래의 문서 목록에서 해당 기사를 클릭하시면 상세한 내용을 보실 수 있습니다. 기사 내용 및 제품과 관련해 문의사항이 있으시면 언제라도 연락 주시면 신속하게 답변 드리겠습니다.

인서킷 테스팅을 위해 LCR 미터를 효과적으로 사용하는 방법 / 스마트트위저, 핀셋형 멀티미터

PCB나 부품 시험을 할 경우 보통 회로 상의 부품을 떼어내지 않고 회로 상에서 측정하거나 시험하는 것을 인-서킷 시험 (In-Circuit Testing)이라고 합니다. 보통 인-서킷 시험에서 측정한 값의 경우 대부분 기대했던 값과 동일하지 않는 경우가 많습니다. 광범위한 테스트를 통해 LCR Research 사는 회로 내 테스트를 위해 LCR Pro1 LCR 미터를 효과적으로 사용하기 위한 5가지 방법을 설명합니다.

1. 테스트할 부품과 연결된 다른 부품들도 알고 있어야 합니다.

LCR 미터는 인서킷 테스트 중에 복잡한 임피던스를 측정합니다. 이러한 측정 결과는 현재 측정중인 부품 (구성 요소)뿐만 아니라 해당 부품에 연결된 다른 부품들에 의해서도 영향을 받습니다.

측정 된 부품의 경우 해당 부품의 임피던스를 변경할 수 있는 주변의 다른 부품과 직렬이나 병렬 또는 복합된 연결을 가질 수 있습니다. 간단한 예로 두 개의 10K 옴 저항이 병렬로 회로 상에 연결된 경우 각각에 대해 개별적으로 값을 측정하면 5K 옴의 판독 값이 표시될 것입니다.

2. 능동 소자를 측정할 경우 LCR 미터의 테스트 전압을 조정합니다.

IC (집적 회로)와 같은 부품의 경우 일반적으로 다음 회로도에 표시된 대로 ESD(정전기 방전) 보호를 위해 입력 및 출력 핀에 다이오드가 내장되어 있습니다.

보시다시피 2 개의 ESD 보호용 다이오드가 IC의 디지털 입력 핀 내부에 배치됩니다. 하나는 전원선에 연결되고 다른 하나는 접지에 연결됩니다. IC에 전원이 공급되지 않는 경우 이러한 다이오드는 LCR 미터의 0.5V 또는 1.0V 테스트 신호에 의해 순방향 바이어스 될 수 있습니다. 따라서 높은 테스트 전압을 사용하여 IC 핀 또는 IC에 연결된 부품을 측정할 경우 예기치 않은 결과가 발생할 수 있습니다.

Pro1, Pro1+ LCR 미터는 0.2V, 0.5V 및 1.0V의 세 가지 테스트 전압 레벨을 제공합니다. 0.2V는 인서킷 회로 내 테스트를 위해 특별히 설계된 테스트 전압입니다. 능동 부품이 순방향 바이어스 되는 것을 방지 할 수 있을 만큼 낮은 전압이므로 보다 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트 결과를 얻을 수 있을 것 입니다.


Note1. 능동소자와 수동소자

능동소자 (active element, active component)란 작은 신호(전력, 전압, 전류 중 하나)를 넣어 큰 출력 신호로 변화시킬 수 있는 전자 부품 소자이다. 입력과 출력의 비율로 이득을 얻거나 입출력이 일정한 관계를 갖는 것을 말합니다. (연산증폭기, 다이오드, TR, IC 부품 등)

수동소자(passive element, passive component)는 공급된 전력을 소비·축적·방출하는 소자로, 증폭 정류 등의 능동적 기능을 하지 못하는 소자를 말한다. 증폭이나 전기 에너지의 변환과 같은 능동적 기능을 가지지 않는 전자 소자. 저항기, 콘덴서, 인덕터, 트랜스, 릴레이 등이 있다.

3. 적절한 테스트 팁 선택

PCB 상의 부품을 테스트 할 경우 해당 부품과 시험기간의 연결이 안정적인 상태이어야 합니다. 부품의 테스트 포인트에 연결하는 프로브나 팁의 선택이 중요하며 정확하고 안정적으로 연결할 수 있는 테스트 팁을 선택해야 합니다. 복잡한 부품으로 구성된 PCB의 경우 날카롭고 얇은 테스트 팁을 사용하면 시험 시료 부품과 인접한 다른 부품이나 구성 요소와의 접촉 이상을 방지하는 데 도움이 됩니다.

핀셋형의 LCR Pro는 초정밀 금도금 테스트 팁으로 제작되었고 PCB 인서킷 회로 내 테스트를 위한 최적의 선택입니다.

4. 부품 값이 알려진 양품 보드와 비교 시험

보드에서 고장 난 부품이나 구성 요소를 찾기 위해서는 고장 난 보드와 양품의 골든 보드를 상호 비교합니다. 두 보드간의 측정값 차이를 발견함으로써 고장을 찾을 수 있습니다. 시험 하려는 부품과 연결된 다른 부품으로 인해 표기된 값과 측정값이 서로 다를 수 있습니다. 이런 경우 양품 보드의 값과 비교함으로써 해당 부품과 연결된 부품 등에 이상이 있는지를 알 수 있습니다.

인서킷 회로 내 테스트를 수행하기 전에 반드시 보드의 전원을 차단해야 합니다. 그리고 PCB에 장착된 용량이 큰 커패시터의 경우 반드시 방전을 시켜 측정시 발생할 수 있는 기기고장을 예방할 수 있습니다. 전원이 공급되는 부품의 경우 Pro1 LCR 미터로 측정할 경우 측정기가 손상될 수가 있습니다.

​5. 테스트하기 전 반드시 부품의 전원 차단

인서킷 회로 내 테스트를 수행하기 전에 반드시 보드의 전원을 차단해야 합니다. 그리고 PCB에 장착된 용량이 큰 커패시터의 경우 반드시 방전을 시켜 측정시 발생할 수 있는 기기고장을 예방할 수 있습니다. 전원이 공급되는 부품의 경우 Pro1 LCR 미터로 측정할 경우 측정기가 손상될 수가 있습니다.

인코어테크놀로지(주)에서 발행하는 기술정보 및 제품 관련정보를 이메일로 받아보실 수 있습니다. 구독을 원하시면 지금 바로 신청하세요.