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사례연구 (Case Study)

특정 고객사 또는 산업분야에서 제품이 활용되고 있는 사례입니다.

아래의 문서 목록에서 해당 기사를 클릭하시면 상세한 내용을 보실 수 있습니다. 기사 내용 및 제품과 관련해 문의사항이 있으시면 언제라도 연락 주시면 신속하게 답변 드리겠습니다.

스마트 트위저 LCR Pro를 이용한 SMD 부품의 측정 사례

측정 개요

LCR Pro1/Pro1 Plus 제품은 초정밀, 소형 SMD 부품에 대해 편리하고 간편하게 측정을 할 수 있도록 개발된 제품입니다. 두 제품 모두 SMD 부품 측정을 쉽게 할 수 있도록 설계되었으며 높은 정밀도를 제공합니다.

최근에 모바일 기기나 소형 전자기기의 확산으로 인해 내부의 메인 PCB는 그 크기가 매우 작아졌습니다. 그로 인해 PCB에 장착되는 부품들도 크기가 매우 작고 미세한 값의 SMD 타입의 부품들이 조밀하게 사용됩니다. 이러한 초소형의 SMD 타입의 커패시터나 저항, 인덕터 등은 노이즈 차단이나 필터, 바이패스 회로, 클록 주파수 생성을 위한 시정수 값을 맞추는 용도 등으로 사용됩니다.

품질부서의 검사자들이나 생산부서 또는 자재부서의 시험자들은 이러한 유형의 초소형 부품에 대한 부품검사를 해야 하며 또 생산된 PCB에 대해서도 인-서킷 상태의 시험이 필요할 때도 있습니다. 이러한 시험이나 검사를 위해 LCR 미터의 도입과 사용을 검토하면서 실제 제조사나 판매사에서 적시한 사양이 제대로 된 것인지 문의하는 경우가 많습니다. 일부 저가 제품이나 제조가가 불분명한 제품의 경우 사양과 실제 측정된 값에 많은 차이가 있기 때문에 실무에서 제품을 사용하기 힘든 경우를 종종 접하게 됩니다.

본 문서는 SMD 부품에 대한 측정 사례를 보여줍니다. 시험 샘플은 그동안 측정을 문의를 해주신 고객분께 제공되었던 시험 데이터중에 일부를 선정하였습니다.

● 커패시터 – 1pF 에서 1nF 까지

● 인덕터 – 12nH에서 180nH 까지

본 문서는 LCR 미터의 구입을 고려하시는 분들께 도움을 드리기 위해 작성되었습니다.

커패시턴스 측정 사례 - 1.2pF 커패시터 (±5%) 측정

1.2pF의 작은 값을 갖는 SMD 타입의 커패시터 측정 시험입니다. 작은 값을 갖는 시료이므로 좀 더 정확하고 정밀한 값을 획득하기 위해 시험주파수를 10kHz로 설정하였습니다.

● 측정 값 : 1.3488pF (10kHz mode)

10pF 이하의 값에 대한 측정시험에 있어 제조사의 사양은 다음과 같습니다. LCR Pro1, LCR Pro1 Plus 제품 모두 10pF 범위의 시험 주파수가 10kHz 모드인 경우 1.0% + 0.05pF의 정밀도를 제공하며 100kHz 시험 모드에서는 2.5% + 0.2pF의 정밀도를 제공합니다.

위 시험의 경우 1.2pF ±5% 시료의 경우 시료 최대 오차는 1.14pF ~ 1.26pF입니다. 여기에 계측기 측정 오차인 0.15pF을 감안할 경우 0.99pF ~ 1.41pF 이내로 측정 될 경우 부품 시험은 Pass된 것으로 간주할 수 있습니다.

다만, 10pF (5%)보다 용량이 적거나 정밀한 부품에 대하여 오차범위 이내의 검증이 요구될 경우에는 수천만 원을 호가하는 초고사양의 정밀 계측기를 사용해야 할 수도 있습니다.

커패시턴스 측정 사례 - 6.8pF 커패시터 (±5%) 측정

● 측정 값 : 6.9020pF (10kHz mode)

위 시험의 경우 6.8pF ±5% 시료의 경우 시료 최대 오차는 7.14pF ~ 6.46pF입니다. 여기에 계측기 측정 오차인 0.15pF을 감안할 경우 7.29pF ~ 6.31pF 이내로 측정 될 경우 부품 시험은 Pass된 것으로 간주할 수 있습니다.

커패시턴스 측정 사례 - 10pF 커패시터 (±1%) 측정

10pF의 작은 값을 갖는 SMD 타입의 커패시터 측정 시험입니다. 작은 값을 갖는 시료이므로 좀 더 정확하고 정밀한 값을 획득하기 위해 시험주파수를 10kHz로 설정하였습니다.

● 측정 값 : 10.033pF0kHz mode)

커패시턴스 측정 사례 - 100pF 커패시터 (±1%) 측정

100pF의 작은 값을 갖는 SMD 타입의 커패시터 측정 시험입니다. 작은 값을 갖는 시료이므로 좀 더 정확하고 정밀한 값을 획득하기 위해 시험주파수를 10kHz로 설정하였습니다.

● 측정 값 : 99.802pF0kHz mode)

위 시험의 경우 100pF ±1% 시료의 경우 시료 최대 오차는 101pF ~ 99pF입니다. 여기에 계측기 측정 오차인 0.28pF을 감안할 경우 101.28pF ~ 98.72pF 이내로 측정 될 경우 부품 시험은 Pass된 것으로 간주할 수 있습니다.

커패시턴스 측정 사례 - 1nF 커패시터 (±1%) 측정

● 측정 값 : 1.0052nF(10kHz mode)

인덕턴스 측정 사례 - 12nH 인덕턴스 (±5%) 측정

12nH 값을 갖는 SMD 타입의 인덕턴스 측정 시험입니다.

● 측정 값 : 11.757nH (100kHz mode)

● 부품명 : EAP62108401

위 시험에서 12nH ±5% 시료의 경우 최대 오차는 11.4nH ~ 12.6nH입니다. 계측기 기본 오차는 Calibration을 통해 최소화한 후 시험을 수행합니다. 시료의 사이즈에 따라 기생 커패시턴스 등의 공차를 제거해 주어야 합니다.

0.6mm 정도의 아주 작은 부품입니다. 육안으로도 식별하기 어렵고 측정을 하기 위해 팁을 연결하기도 쉽지 않습니다. 일반 계측기의 프로브로는 잡을 수가 없어 측정이 불가능합니다. SMD 스마트트위저인 LCR 제품의 경우 금도금의 정교한 팁을 제공함으로써 매우 작은 부품까지도 측정이 가능합니다.