한국표준형 원전 노심보호연산기, 제어봉연산기 DAS-IO ERROR 오류를 유발한

전자카드의 고장 위치를 실시간 검출하는 국내외 유일한 솔루션

개발 배경 및 필요성

DAS I/O ERROR, CALIBRATION 오류에 대한 고장카드 검출 및 원인파악 어려움

-  표준형원전 CPC, CEAC 계통에서 상기 오류 발생시 채널 트립 발생, 

-  AI 카드는 CPC(4장), CEAC(11장)에 설치 운영되며, 

   고장 발생시 하나씩 전자카드를 교체하면서 고장 위치를 찾아내며 정비를 수행합니다.

고장발생시 신속한 정비 및 보수 어려움. 

- AI 카드에 대한 제어로직 건전성 시험 도구 부재

- AI 카드는 신호 변환(필터), 신호 전달을 포함한 제어부로 구성되며, 

  제어부는 Digital IC로 구성되어 기존 ICT나 육안점검 등으로 점검 한계

- 디지털 IC의 동작 파형 및 로직 처리, 지연 시간 등 측정

간헐적인 고장 발생시 고장 카드 검출 필요

- O/H 기간 중 빈번한 간헐적 고장 발생시 고장 검출 필요, 연속 시험 (Aging Test), Gain 설정 시험,

  보고서 등 기타 부가기능 요구됨.

고장카드 검출 및 실시간 모니터링 기술/방법 요구

주요 기능

Analog Input 카드 고장 검출 (검출 모드)

- 최대 88채널 (11개 카드) AI 카드 기능진단 및 전압 정보(0~10V) 표시

- 현장입력 또는 모의 생성 입력 신호처리, 채널 트립 시 본 카드 삽입 후 고장카드 검출

실시간 DAS 오류 감시 (감시 모드)

- 아날로그 신호처리카드 신호 실시간 모니터링, 오류 발생시 고장 카드 정보를 Indicator에 표시

- 고장 발생 직전 신호정보 내역 확인 (S/W)

실시간 신호 추적 기능 (감시 모드)

- AI 카드에서 ADC로 전달하는 신호의 감시

- 감시 대상 슬롯, 채널을 지정할 경우 해당 신호가 ADC에 전달될 때 추적해 로그기록

전자카드 단위시험 (Unit Test, 검출모드)

- 디지털 신호처리블록 성능검사 (2단계), 아날로그 입력 단 RC Filter 신호 감쇄 시험(3단계)

- 단위 시험 자동 적부 판정,  결과 보고서 관리

전자카드 연속시험 (Aging Test, 검출모드)

- 1시간, 10시간, 100시간 반복(1~10회) 시험

- 최대 편차 기록, 시험 진행 상태 표시, 연속 시험 자동 적부 판정, 결과 보고서 관리, 시험데이터 PC 저장 관리

지원용 소프트웨어

기술 사양

• Input Power : + 5V, ±15VDC

• Signal Output Source : 0VDC, ±5VDC, ±10VDC

• Access Available of Channel : 0 ch ~ 88 ch

• Concurrent Access of Card (Maximum) : 11 Ea

• A/D Resolution : 16 Bit

• Time Rate ( Card Access ) : 100 us 이내

• Time Rate ( Channel Access ) : 12 us 이내

• 1 Port RS232C (Connect with PC for Report and Analysis)

• 1 Port Bluetooth Communication

• Display : Card Position and Status, 11 LED (RED/GREEN)

• Micro Controller : AVR, FPGA

• Connect : 31/62 Pin Assignment

• Operation Temp : 0 ~ 50℃

• Humidity : 20 ~ 80%

• Dimension : 227mm * 116mm * 1.6t