시스템 개요

전자부품 특성시험 장비는 전 원전에서 사용되는 각종 안전등급(Q) 전자부품의 일반규격품 품질검증(CGID) 수행을 위한 장비이다. 다품종 다량의 전자부품에 대한 특수 시험 및 검사를 효과적으로 수행할 수 있도록 제작된 장비이다.

전자부품 특성시험 장비 세트

• • 디지털 집적회로 시험세트 (Digital IC Tester)

  • 반도체 능동 전자부품 시험세트 (Semiconductor Electronic Component Tester)

상용계측기와 신호 통합 및 신호에 대한 매트릭스 제어를 위한 Signal Integration Module (SIM), Test Signal Unit (TSU), 소켓지그, Vision Test Unit, 운영컴퓨터, 전원공급 장치 및 전원분배 패널, 정전기 제거 및 표시장치, 프린터 및 19“ 랙 캐비닛과 시험 테이블로 구성됨.

시스템 소개

전자부품 특성시험 장비는 디지털 집적회로 시험세트와 반도체 능동 전자부품 시험세트로 구성된다. 각 시험세트는 상용계측기와 시그널 매트릭스 보드를 이용하여 다수의 부품 시료에 대해 순차적으로 동시 시험이 진행되도록 하다.

전자부품 특성시험 장비는 장비 운영 소프트웨어와 스크립트 툴, 데이터베이스 서버와 관리프로그램으로 구서된다. 각각의 장비 모두는 Ethernet 통신 방식을 이용해 데이터를 처리하고 시험 관리를 수행한다. 시험을 위해서 적절하게 계측기를 선별하고 배정하며, 신호를 할당해서 데이터를 취득할 수 있도록 매트릭스 릴레이를 조정한다. 스크립트 툴은 시험에 관련된 세부 내역을 작성하고 편집 할 수 있다.

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