AMS는 주파수를 자동으로 가변시키면서 V/I 분석을 수행합니다. 부품의 고장이나 회로 이상등의 고장 발견 확률을 높이며 지정된 기준점에 대해 모든 포인트의 V/I 분석용 매트릭스 결과를 표시할 수 있습니다. 전자 부품의 고장 및 잠재적인 고장을 예측하고 정비할 수 있는 방법을 제공합니다.
AMS는 최근에 추가된 측정, 시험 모듈로 파워 오프 상태에서의 고장 검출을 위해 새롭고 유일한 기능을 제공합니다.
최근 오토닉스에서는 32채널의 AMS 모듈로 구성된 3D VI 테스터 구매 발주를 하였습니다.
3차원 VI 테스터는 전원을 끈 상태에서 부품이나 PCB 어셈블리 분석을 위한 혁신적인 솔루션입니다. 고유한 테스트 기술을 사용하여 내부 손상 및 불일치를 포함하여 결함 의 검출을 위한 전기 신호를 인가하며 시험합니다. 2D, 3D VI 시험은 고장 검출 커버리지를 증가시키는 동시에 오류 검출 시간을 감소시킬 수 있습니다.
■ Features
V/I signature analysis with frequency range
V/I signature analysis (static frequency)
Matrix V/I analysis (multiple reference)
Dynamic V/T analysis (pulse outputs)
Automatic live comparison
Automatic comparison with saved mask
Interactive test sequences with the ABI software
■ Specifications
최소 32 channels per module (기본 64채널, 최대 2,048 채널까지 확장 가능)
4 single channels
4 configurable pulse outputs
4 ground connections