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Electronic IC & Component Testing
전자부품의 건전성 시험 (전기적 특성, 기능, 동작, 사양/성능), 사용전 양부 판정
Electronic IC & Component Testing
전자부품의 건전성 시험 (전기적 특성, 기능, 동작, 사양/성능), 사용전 양부 판정
부품 검사 1
부품 검사 1
기본 구조 검사
기본 구조 검사
동일성 검사
동일성 검사
전기적 특성 비교 시험 - V-I Signature
전기적 특성 비교 시험 - V-I Signature
- 위조품 / 정품 비교 검사
- 2D, 3D V-I Signature 분석/비교 시험, VI Matrix 비교 시험
- 로트간 일치성 확인 (최소 3개 이상)
보유장비) ABI BoardMaster, 3D V-I Scanner, SENTRY Counterfeit IC Detector
보유장비) ABI BoardMaster, 3D V-I Scanner, SENTRY Counterfeit IC Detector
부품검사 2
부품검사 2
기능시험
기능시험
동작 특성 시험
동작 특성 시험
기능 및 동작 시험 Functional Test
기능 및 동작 시험 Functional Test
- 주요 기능 동작 및 작동 시험
- Functional Test, Comparision Test, Truth Table Test, V-T Funtional Test, digital /Analog Funtion
보유장비) ABI BoardMaster, Digital Ocsilloscope, Functional Generator, DMM ...
보유장비) ABI BoardMaster, Digital Ocsilloscope, Functional Generator, DMM ...
부품검사 3
부품검사 3
사양 시험
사양 시험
한계 시험
한계 시험
사양 및 한계 특성 검사 - Specification Test
사양 및 한계 특성 검사 - Specification Test
- 주요 필수 특성 및 사양 검사
- 한계 시험, Threshold Test, Margin/Limit Test, 내전압, 절연 등
보유장비) Curve Trancer (2KV), Hipot Tester (1.5KVdc, 1KVac)
보유장비) Curve Trancer (2KV), Hipot Tester (1.5KVdc, 1KVac)
서비스 절차
서비스 절차
1. 접수 및 문의
1. 접수 및 문의
2. 견적
2. 견적
3. 시료 전달
3. 시료 전달
4. 시험 (샘플 / 전수)
4. 시험 (샘플 / 전수)
5. 청구서/세금계산서 발행
5. 청구서/세금계산서 발행
6. 시료 반납
6. 시료 반납
- 신속, 정확, 합리적 비용
샘플 시험
고객사에서 선정한 샘플 수량 시험
샘플 시험
고객사에서 선정한 샘플 수량 시험
전수 시험
모든 부품에 대한 검사 수행
견적 & 문의
전수 시험
모든 부품에 대한 검사 수행
견적 & 문의
홍경표 이사
070-8670-2130 (대표번호)
sales@incoretech.co.kr
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