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オープンシステム・ディペンダビリティは，目的，目標，環境および性能の変化に対応し，しかも，説明責任を常に達成しつづけることによって，期待されたサービスを求められた時に求められたように提供する能力である．
オープンシステム・ディペンダビリティ ワークショップ（WOSD）は，オープンシステム・ディペンダビリティについての議論を提供し，この分野のさらなる研究を促進するためのワークショップです．DEOS協会，IPA，慶應SDMが共催する第6回WOSDでは，システム・アシュランス，リスク管理，アセット管理などの，オープンシステム・ディペンダビリティ関連分野の標準化活動についての講演と議論が行われます．
第5回までのWOSDはIEEE DSN (International Conference of Dependable Systems and Networks)の衛星ワークショップとして(2011, 2012年)，またIEEE ISSRE (International Symposium on Software Reliability Engineering)の衛星ワークショップとして(2013-2015年)開催されてきました．
日時と会場
日時と会場
2017年10月21日（土曜日）
〒108-8345 東京都港区三田 2-15-45 慶應義塾大学 東館 6・7階 GLab
(北館大会議室から東館GLabに変更しました．)
参加申し込み
参加申し込み
参加無料
参加申し込みは IPA WOSD ページ (http://sec.ipa.go.jp/seminar/20171021.html) の一番下の「ログイン」ボタンを押して行ってください。IPAのidが必要ですが，申し込めばその場で発行されます。．
共催者
共催者
DEOS協会（ディペンダビリティ技術推進協会）
IPA（情報処理推進機構）[IPA WOSD 2017サイト]
慶應大学SDM（慶應大学大学院システムデザイン・マネジメント研究科）
委員
委員
(General Chair) 所眞理雄（オープンシステム科学研究所）
(Program Co-chair) Robin Bloomfield (City, University of London / Adelard)
(Program Co-chair) 木下佳樹（神奈川大学）
ワークショップ テーマ
ワークショップ テーマ
オープンシステム・ディペンダビリティと標準化
本ワークショップでは，オープンシステム・ディペンダビリティとシステム・アシュランス，リスク管理，アセット管理などの分野との関連及び標準化についての招待講演が行われます．
オープンシステム・ディペンダビリティの背景には，とくに長期間にわたって運用されるシステムに本質的に備わる不定性があります．システムとその（とくに脅威に関する）環境は，時とともに変化し，また，関係者の観点によって異なる姿を見せます．これはSoS (System of systems) やIoT (Internet of Things)，アセット管理などに典型的に現れることです．その結果，あらかじめ制御を計画しておけないような誤動作が起きたり，予期しないリスクやその結果に関する説明責任問題が生じたりしています．
ここ数年の間に，オープンシステム・ディペンダビリティについての活動は研究活動（DEOSプロジェクトなど）から産業界への応用・普及への展開活動にシフトしています．特にIEC TC 56 Dependasbilityにおける国際標準案IEC 62853 Open systems dependabilityの制定活動は，最終段階を迎えています．この標準は ISO/IEC/IEEE 15288 System life cycle processes の上に4つのプロセスビューを制定するもので，システム・アシュランス，アセット管理，リスク管理などの分野の国際標準と相互に関連しています．
講演者と話題
講演はすべて英語で行われます．講演の概要を記した予稿集を，当日参加者に配布いたします．
予稿集はここにあります; 幾つかの論文は，ワークショップ後に改訂されたものです．
以下では，論文タイトルから個別の論文へのリンクを貼ってあります．
Robin Bloomfield (City, University of London / Adelard LLP)
Assurance of open systems dependability: developing a framework for automotive security and safety
(slides)
Jean Cross (University of New South Wales)
ISO 31010 Risk assessment techniques and open systems
(slides)
Tom Van Hardeveld (Chairperson, IEC TC 56 Dependability)
Developments in Dependability Standardization
(slides)
James Kennedy (Asset Management Council)
Asset Management, Open Systems and the Role of Governance
Yoshiki Kinoshita (Kanagawa University)
An overview of IEC 62853 Open systems dependability (CDV)
(slides)
Valter Loll (Loll Consult)
Short History of IEC TC56 from 1965 to 2017 (to be read by Van Hardeveld)
(slides)
Takaaki Matsumoto (Information-technology Promotion Agency)
Impact of open systems dependability on IoT and SoS
(slides)
John Rushby (Stanford Research Institute)
Automated Integration of Potentially Hazardous Open Systems
(slides)
Seiko Shirasaka (Keio University)
Increasing Difficulty of System Development ~ How can we cope with it? ~
Mario Tokoro (Institute of Open Systems Science, Ltd.)
Open Systems Dependability and DEOS: Concept, Retrospect and Prospects
(slides)
プログラム
2017-10-21 (土) 於慶応義塾大学三田キャンパス
08:30 Registration
09:00 – 09:10 Welcome address (Tokoro, DEOS Association).
09:00 – 09:20 Orientation
09:20 – 09:50 Key note (Tokoro)
09:50 – 10:20 Coffee
10:20 – 11:50 Cross, Kennedy, Matsumoto
11:50 – 13:30 Lunch
13:30 – 15:00 Bloomfield, Rushby, Shirasaka
15:00 – 15:30 Coffee
15:30 – 17:00 Loll (read by Van Hardeveld), Van Hardeveld, Kinoshita
17:00 – 17:15 Break
17:15 – 17:45 Presentations of DEOS consortium activities
- Application to automotive technology SIG
by Yutaka Matsubara (Nagoya)
- Standardisation SIG
by Makoto Takeyama (Kanagawa)
17:45 – 18:00 Closing address (Tomita, IPA)
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