2023年5月 - 現在　　　　奈良先端科学技術大学院大学 先端科学技術研究科 助教

2023年4月 - 2023年4月　奈良先端科学技術大学院大学 先端科学技術研究科 特任助教

2020年4月 - 2022年9月　独立行政法人 日本学術振興会 特別研究員 (DC2)

2019年4月 - 2023年3月　奈良先端科学技術大学院大学 先端科学技術研究科  先端科学技術専攻 博士後期課程

2017年4月 - 2019年3月　奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 情報科学専攻 博士前期課程 

2015年4月 - 2017年3月　豊橋技術科学大学 情報知能工学課程 情報工学コース

2010年4月 - 2015年3月　石川工業高等専門学校 電子情報工学科

Hardware security, IEMI, TEMPEST, Hardware Trojans, Electromagnetic compatibility, Device identification.

1. Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Masahiro Kinugawa, and Yuichi Hayashi, "Echo TEMPEST: EM Information Leakage Induced by IEMI for Electronic Devices," in IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 65, no. 3, pp. 655-666, June 2023, doi: 10.1109/TEMC.2023.3252636. (Open Access)

2. Young Woo Kim, Daisuke Fujimoto, Shugo Kaji, Shinpei Wada, Hyunwook Park, Daehwan Lho, Joungho Kim, and Yuichi Hayashi, "Segmentation Method based Modeling and Analysis of a Glass Package Power Distribution Network (PDN)," in Nonlinear Theory and Its Applications (IEICE), vol. 11, no. 2, pp. 170-188, Apr., 2020, doi: 10.1587/nolta.11.170. (Open Access)

3. Shugo Kaji, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, and Yuichi Hayashi, “Data Injection Attack Against Electronic Devices With Locally Weakened Immunity Using a Hardware Trojan,” in IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 61, no. 4, pp. 1115–1121, Aug. 2019, doi: 10.1109/TEMC.2018.2849105.

1. Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Simulation-Based Approach to Generating Golden Data for PCB-Level Hardware Trojan Detection Using Capacitive Sensor," 2023 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE), Huntsville, AL, USA, 2023, pp. 1-7, doi: 10.1109/PAINE58317.2023.10317949.

2. Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, "Enhanced Modulation Degree of Leakage Wave Induced by IEMI via Nonlinear Circuit Elements," 2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC+SIPI), Grand Rapids, MI, USA, 2023, pp. 487-487, doi: 10.1109/EMCSIPI50001.2023.10241593.

3. Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Youngwoo Kim, and Yuichi Hayashi, "A Fundamental Evaluation of EM Information Leakage Induced by IEMI for a Device with Differential Signaling," 2021 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), Nusa Dua - Bali, Indonesia, 2021, pp. 1-4, doi: 10.1109/APEMC49932.2021.9597081.

4. Shugo Kaji, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, Laurent Sauvage, Jean-Luc Danger, and Yuichi Hayashi, “Method for Identifying Individual Electronic Devices Focusing on Differences in Spectrum Emissions,” in 2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Sapporo & APEMC 2019), ThuPM2C.2, 2019. 

5. Shugo Kaji, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, and Yuichi Hayashi, "Data injection attacks using a hardware Trojan on a transmission line," 2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC), Suntec City, Singapore, 2018, pp. 10-10, doi: 10.1109/ISEMC.2018.8394010. 

1. 鍛治秀伍, "Echo TEMPEST: 電子機器への意図的な電磁妨害による情報漏えいの脅威と対策," DAシンポジウム2023, 2023.

2. 鍛治秀伍, “模造半導体とハードウェアトロージャンが引き起こすセキュリティ脅威,” 電子材料・デバイス技術専門委員会デバイス・ハードウェアセキュリティ技術分科会, 2022.

3. Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Masahiro Kinugawa and Yuichi Hayashi, "Fundamental Study on Forcible EM Information Leakage Caused by Continuous Waves Injection into Electronic Devices," in The 16th International Workshop on Security (IWSEC 2021), 2021.

4. Shugo Kaji, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi, “Data Injection Attack Against Electronic Devices With Locally Weakened Immunity Using a Hardware Trojan,” in IEEE EMC-S Japan Joint / Sendai Chapter, 2020.

1. ハードウェアセキュリティ研究会若手優秀賞, "意図的に引き起こされる電磁的情報漏えい評価法の検討 ～ デジタル出力回路のインピーダンス変化に着目した評価 ～," 電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ研究会, 2020.

2. Richard B. Schulz Award for the Best EMC Transactions Paper - Honorable Mention, "Data Injection Attack against Electronic Devices with Locally Weakened Immunity using a Hardware Trojan," IEEE Electromagnetic Compatibility Society, 2020. 

3. EMCJ 若手研究者発表会 JIEP電磁特性技術委員会賞, "意図的な電磁妨害時に生ずる情報漏えいの基礎評価," 一般社団法人エレクトロニクス実装学会 電磁特性技術委員会, 2020. 

4. 暗号と情報セキュリティシンポジウム論文賞, "電子機器への連続波注入による強制的な電磁情報漏えい誘発に関する基礎検討," 電子情報通信学会 情報セキュリティ研究会, 2020.

5. ハードウェアセキュリティサマーセミナー最優秀ポスター賞, "物理構造に着目した電磁的情報漏えいを誘発させる照射周波数推定方に関する検討," 2019.

6. ハードウェアセキュリティ夏のワークショップ最優秀ポスター賞, "不正な回路改変を用いた機器のイミュニティ操作に関する研究,"2018.

1. 北澤太基, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林 優一, "スイッチングレギュレータからのバックスキャッタリングに着目したサイドチャネル攻撃に関する基礎検討," 信学技報, vol. 123, no. 215(EMCJ2023-40), pp. 28-31, 2023.

2. 近藤嵩之, 北澤太基, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一, "複数の変調方式を用いた意図的電磁照射により生ずる漏えい音情報の高精度な復元法に関する検討," 信学技報, 123 (132), pp. 171-175, 2023.

3. 高野誠也, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一, “意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築,” 信学技報, 122 (206), pp. 93-96, 2022.

4. 鍛治秀伍, 太刀掛彩希, 藤本大介, 林優一, “静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討,” 信学技報,122 (11), pp. 19-23, 2022.

5. 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一, "位相限定相関法を用いた意図的な電磁情報漏えい耐性評価法," 2022年 電子情報通信学会総合大会, A-19-5, 2022.

6. 湯川 大雅, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 林 優一, "通信線路上のハードウェアトロイによる電磁情報漏えい評価法の検討 ～変調度と放射強度に着目した評価 ～," 信学技報, vol. 121 (413), pp.153-157, 2022.

7. 太刀掛彩希, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一, "静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討," 信学技報, 121 (206), pp. 49-52, 2021.

8. 西鳥羽陽, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一, "オンチップセンサを用いた線路上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討," 信学技報, 121 (206), pp. 38-42, 2021.

9. 上田浩行, 鍛治秀伍, 藤本大介, キムヨンウ, 林優一, "接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討," 信学技報, 120 (425),pp. 40-43, 2021.

10. 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一, "複数の周波数印加による電磁的情報漏えい誘発に関する検討," 2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS2021), 2D3-4, 2021.

11. Hiroyuki Ueda, Shugo Kaji, Young Woo Kim, Daisuke Fujimoto, Taiki Kitazawa, Takashi Kasuga, and Yuichi Hayashi, "Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation," 信学技報, 120 (275), pp. 34-38, 2020.

12. 鍛治秀伍, 藤本大介, 衣川昌宏, 林優一, "意図的に引き起こされる電磁的情報漏えい評価法の検討 ～デジタル出力回路のインピーダンス変化に着目した評価～," 信学技報, 120 (211), pp. 13-17, 2020.

13. 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一, "意図的な電磁妨害時に生ずる情報漏えいの基礎評価," 信学技報, 120 (83), pp. 25 - 28, 2020.

14. 鍛治秀伍, 藤本大介, 衣川昌宏, 林優一, "電子機器への連続波注入による強制的な電磁情報漏えい誘発に関する基礎検討," 2020年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS 2020), 3E3-3, 2020.

15. 川上莉穂, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一, "複数のデータ伝送路を有するICから強制的に引き起こされる電磁的情報漏えいに関する検討," ハードウェアセキュリティフォーラム2019, 2019. 

16. 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一, "電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討", 信学技報, 119 (143), pp. 235-238, 2019. 

17. 川上莉穂, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一, "電磁照射による意図的な情報漏えい誘発時に生ずる自己干渉波の抑制に関する基礎検討," 信学技報, 119 (2), pp. 31-35, 2019. 

18. 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, Laurent Sauvage, Jean-Luc Danger, 林優一,"製造・実装ばらつきに起因する放射スペクトルの違いを用いた電子機器の個体識別手法に関する基礎検討," 信学技報, 118 (458), pp.163-167, 2019. 

19. 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一, “ハードウェアトロイを用いた情報通信機器へのデータ注入攻撃に関する基礎検討,” 信学技報, 118 (162), pp.49-54, 2018. 

20. 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一,“HTを用いて局所的にイミュニティを低下させた電子機器へのデータ注入攻撃,” 2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS2018), 1D2-3, 2018. 

2018年10月 - 2018年12月 Telecom ParisTech, インターンシップ.

1. 公益財団法人東電記念財団, 給付型奨学金 採用, 2020.

2. 日本学生支援機構, 特に優れた業績による返還全額免除, 2019.

3. 奈良先端科学技術大学院大学, 令和元年度優秀学生奨学制度 採用, 2019.

4. 公益財団法人アイコム電子通信工学振興財団, 給付型奨学金 採用, 2019.