主催：公益社団法人日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会
協賛：軽金属学会、日本分析学会、日本熱処理技術協会、日本材料学会、日本セラミックス協会、日本鉄鋼協会
初日午前の「チュートリアル」では、分析電子顕微鏡の基軸となるEDS、EELS、STEMについて、その基礎から詳しく解説していただきます。午後のトピックセッションでは、「分析電子顕微鏡の実践」をテーマに、企業および研究機関の第一線で活躍されている講師の方々から、実践的な分析電子顕微鏡の活用方法や応用例をご紹介いただきます。
二日目午前は、電子顕微鏡用の「試料作製」に関するチュートリアルを企画しています。さらに午後のトピックセッションでは、「放射光を用いたイメージングと分析」をテーマに、4名の放射光を用いた研究者の方々に、最新のイメージング・分析技術についてご講演いただきます。
分析電子顕微鏡に関する基礎を学び、実践的な応用や最新の研究動向について理解を深めるとともに、活発な情報交換・討論の機会となることを期待しております。皆様の積極的なご参加をお待ちしております。
【参加費】（予稿集含む）
顕微鏡学会員および協賛学会員（個人会員）3,000円、非会員4,000円、学生1,000円
※参加費はすべて10%税込となります。
【参加申し込み方法】
参加申し込みは、氏名、勤務先、所属、住所、電話番号、e-mailアドレス、申込資格（会員・協賛学会員・学生・非会員）をご記入の上、メール（bunseki.touron.41@gmail.com）にてお申込みください。
申込締め切り：2026年11月24日（火）
参加費のお支払い方法などについては折り返しご連絡いたします。
12月3日(木) 9:30-16:00
チュートリアル （座長：治田充貴）
9:30- TEM-EDSの基礎：元素分析の定性・定量とマッピング
森田博文（オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社）
10:10- EELSの基礎と応用 溝口照康（東京大学生産技術研究所）
10:50- 分析電子顕微鏡のためのSTEM基礎 中西伸登（サーモフィッシャーサイエンティフィック）
11:30- 休憩（10分）
11:40- Q&A（20分）
― 昼休み（12:00-13:30） ―
トピック1 「分析電子顕微鏡の実践」 （座長：山田克美）
13:30- EDS実践講座 三浦颯人（日本電子株式会社）
14:10- EELS実践編 吉川 純（物質・材料研究機構）
14:50- 分析電子顕微鏡の半導体製造における有効性 国宗依信（ルネサスエレクトロニクス株式会社）
15:30- 休憩（10分）
15:40- Q&A（20分）
12月4日(金) 10:00-16:00
試料作製（座長：坂口紀史）
10:00- 金属材料のための電子顕微鏡用試料作製 谷山 昭（日本金属学会）
10:30- マルチイオン種FIBによる最近の試料作製紹介 完山正林（サーモフィッシャーサイエンティフィック）
11:00- ソフトマテリアルの失敗しない電顕観察前処理方法の提案 広瀬治子（日本電子株式会社）
11:30- 休憩（10分）
11:40- Q&A（20分）
― 昼休み（12:00-13:30） ―
トピック2 「放射光を用いたイメージングと分析」（座長：佐藤庸平）
13:30- 高輝度放射光軟X線を用いた顕微分析の展開
高橋正光（量子科学技術研究開発機構NanoTerasuセンター）
14:00- 放射光によるイオン運動のオペランド可視化
小野新平（国際放射光イノベーション・スマート研究センター)
14:30- 蛍光X線ホログラフィーによる原子レベル三次元イメージング
木村耕治（名古屋工業大学）
15:00- Sc系窒化物の圧電・強誘電体の機能発現解明に向けたXAFSによる局所構造解析
上原雅人（産業技術総合研究所）
15:30- 休憩（10分）
15:40- Q&A（20分）
【問い合わせ先】
分析電子顕微鏡分科会世話人 佐藤庸平
東北大学多元物質科学研究所 電子回折・分光計測研究分野
〒980-8577 仙台市青葉区片平２丁目１－１
E-mail: bunseki.touron.41@gmail.com
*gmail宛に送信不可の方は、以下のアドレスにご連絡ください。（[at]を@マークに修正してください。）
yohei.sato.c4[at]tohoku.ac.jp