第38回分析電子顕微鏡討論会のお知らせ
（盛会のうちに終了しました）
主 催：公益社団法人 日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会
協 賛（順不同）：触媒学会、日本分析化学会、日本鉄鋼協会、日本セラミックス協会、軽金属学会、日本表面真空学会、日本金属学会、日本物理学会、応用物理学会
日 程：2023年11月30日（木）、12月1日（金）
方 法：オンラインでの開催（Zoomを予定）
定 員：150名
参加費（予稿集代含む）：顕微鏡学会員及び協賛学会員(個人会員) 2,500円、 非会員 3,000円、学生 1,500円
※ 日本顕微鏡学会会員の参加費は不課税、その他は税込となります。
内 容：分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックスについて講演が行われます。「チュートリアル」では、分析電顕の基軸となるEDS、EELS、STEMの基礎について詳しい講演がなされます。初日のトピックセッションでは、「マルチプローブによる構造解析の最前線」と題して、各種プローブを用いた解析の新展開を紹介します。二日目の午前には、「試料作製」のセッションで、最近進展の著しいFIB（集束イオンビーム装置）による自動化とソフトマテリアルの試料作製について紹介します。また、午後には「元素分析の新展開」について、最近の研究例を紹介します。分析電顕に関わる活発な討論の機会となりますよう奮ってご参加ください。また今年度から、一般講演の募集を再開することに致しました。発表時間は質疑応答を含めて15分の予定です。皆様の奮ってのご発表もお待ちしております。
申込方法： 氏名、所属、発表申込の有無（一般講演）、住所、電話番号、Fax番号、e-mailアドレス、申込資格（会員・協賛学会員・学生・非会員）をご記入の上、電子メールにて下記連絡先へお申し込み下さい。参加費のお支払方法などについて、折り返しご連絡差し上げます。 一般講演での発表を申し込まれる場合は、講演の概要も併せてお送りください。概要は下のフォーマットを使って、A4 1ページでご作成ください。
一般講演の概要フォーマット： 右のボタンを押して、ダウンロードしてください。
連絡先：〒860-8555 熊本県熊本市中央区黒髪２丁目３９番１号 工学部研究棟Ⅰ 908号室
熊本大学 半導体・デジタル研究教育機構 佐藤 幸生
Tel: 096-342-2281 E-mail: sato-yukio@kumamoto-u.ac.jp
発表申込（一般講演）〆切：2023年10月31日（火） 参加申込〆切：2023年11月22日（水）
プログラム（案）（2023年11月12日現在）
（やむを得ない事情の場合は若干の内容変更の可能性がありますことはご容赦ください。）
11月30日(木) 9:30-15:50
1. チュートリアル
9:30- EDSの基礎 山本知一（九州大学）
10:10- EELSの基礎 斎藤光（九州大学）
10:50- 走査透過電子顕微鏡法 石川亮（東京大学）
11:30- Q&A（20分）
― 昼休み（11:50-13:30） ―
2. 一般講演セッション1（発表時間15分（含む質疑応答））
13:45- フッ素ドープしたLa0.5Sr0.5CoO3-δのSTEM構造解析
渡瀬脩介1、麻生亮太郎1、勝又琢也2、中村崇司3、雨澤浩史3、村上恭和１
1九大・院工、2東北大・院工、3東北大・多元研
3. トピック1 「マルチプローブによる構造解析の最前線」
14:00- ブラッグコヒーレントX線回折イメージング法によるナノ結晶非破壊３次元イメージング
大和田謙二、押目典宏、菅原健人、島田歩、町田晃彦、綿貫徹（量子科学技術研究開発機構）、黒岩芳弘（広島大学）
14:30- ミュオン顕微鏡 永谷幸則（高エネルギー加速器研究機構）
15:00- 電子波による電磁場分析の最前線 谷垣俊明（日立製作所）
15:30- Q&A（20分）
12月1日(金) 10:00-15:50
1. 試料作製
10:00- FIBの自動化 ～近年の現状と課題について～
完山正林（サーモフィッシャーサイエンティフィック）
10:30- 電子顕微鏡試料作製の自動化 大西毅、富松聡（日立ハイテク）
11:00- ソフトマテリアルの試料作製方法 広瀬治子（日本電子）
11:30- Q&A（20分）
― 昼休み（11:50-13:30） ―
2. 一般講演セッション2（発表時間15分（含む質疑応答））
13:30- ロボティック・プロセス・オートメーション（RPA）による原子分解能STEM像解析自動化の試み 佐藤幸生（熊本大学）
13:45- BaTiO3ナノ結晶のSTEM構造解析
宮嵜裕明1、麻生亮太郎2、板坂浩樹2、三村憲一2、安井久一2、村上恭和1
1九大・院工、2産総研
3. トピック2 「元素分析の新展開」
14:00- 新型プラズマFIB-SEMの特徴と元素分析事例
宗兼正直（サーモフィッシャーサイエンティフィック）
14:30- SEM-EDSを用いたナノカーボン材料の高空間分解元素イメージング評価技術
中島秀朗（産業技術総合研究所）
15:00- 強度差組成決定法によって拡がるマイクロスケールでのLi分布評価の可能性
川畑正伸（アメテック株式会社 エダックス事業部）
15:30- Q&A（20分）