2. 三次電磁鐵聚焦質量分析儀

   3. 高真空系統

   4. WinCadence4.7影像處理軟體

   5. 飛行時間式二次離子質譜儀使用規範

   6. 作業用途

      表面質譜：全質譜掃描分析表面成分

      質譜影像分佈：分析特定分子或離子在表面的分佈情況

      縱深分析：分析特定元素在縱向深度的分布情況

      大區域分析(長寬500um以上)、縱向深度超過2uM、三維分佈。

教研大樓地下一樓，貴重儀器室。 

學期中:週一至週五，09：00至17：00。

寒暑假:週一至週五，09：00至17：00。

 1.請於共儀中新儀器預約系統線上填寫TOF-SIMS申請單，並請指導教授至預約系統線上批核。

2.共同儀器中心審核通過後，由操作人員聯絡安排預約上機時間。

3.若因故未能於一天前送達樣品，請務必事先告知，由技術人員代為取消實驗，否則以原預約時數計費。

4.送測之樣品，不符實驗安全規則者，將停止使用權利三個月。

5.若技術人員判斷送測樣品，可能導致儀器無法分析，將有權停止分析。

1.使用者需自行處理樣品以符合規格。

2.樣品需為固體且乾燥無水，不能有粉末飄散。

3.基底面積直徑小於2公分，厚度小於0.3公分。

4.不得具有永磁性、爆炸性、易燃性、腐蝕性、輻射性、毒性和揮發性。

5.每一樣品需分別裝在樣品盒中，盒外註明樣品名稱或編號，樣品背面請勿黏貼黏性物質固定。

6.基底材質最好是導電度極佳的材質(如矽晶片)。

• 共同儀器中心管理人員：李啓鳴先生 #2632

• 諮詢教授：解剖學科 張宏名教授  #3270 

使用規範