Introdução

Sabe-se que o comportamento mecânico dos materiais é diretamente influenciado pela sua microestrutura. Observa-se uma grande movimentação de pesquisadores em busca de um entendimento cada vez maior da influência da micro-escala no comportamento dos materiais. Uma das frentes, nesse sentido, vem sendo o emprego de equipamentos de tomografia computadorizada com raio-X (micro-CTScan) para a visualização e investigação da micro-estutura de materiais.

A Plataforma Multiusuária do micro-CTScan foi criada com o objetivo de disponibilizar para a comunidade acadêmica da UFF e instituições ou empresas parceiras a realização de análises que permitam a geração de imagens tridimensionais de qualquer material.

O micro-CTScan fabricado pela ZEISS modelo Xradia Versa XRM-510 é um equipamento de alta resolução, que se baseia em técnica não destrutiva, permitindo a análise de centenas de seções microtomográficas e visualização tridimensional interna das amostras, a análise em microescala de materiais variados, inclusive em amostras de alta densidade, como minerais e rochas, além de quantificações automatizadas de área e/ou volume.