Thomas Wieder

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https://doi.org/10.1063/1.360273

T. Wieder:

SBGBBG, a program to evaluate the macroscopic strain/stress tensor of a polycrystalline sample from X-ray reflection positions;

Computer Physics Communication 85 (1995), 398 - 414.

http://www.cpc.cs.qub.ac.uk/ Local copy with permisson from Elsevier.

J. Zendehroud, T. Wieder, K. Thoma:

Gitterkonstantenbestimmung in kubischen dünnen Schichten unter thermischer Dehnung;

Materialwissenschaft und Werkstoffkunde 26 (1995), 386 - 393.

Local copy (permission from John Wiley and Sons is for the pre-peer version only. However I lost this version many years ago).

https://doi.org/10.1002/mawe.19950260712

T. Wieder:

Lattice constant determination by grazing incidence diffraction in thin cubic films under thermal strain;

Thin Solid Films 256 (1995), 39 - 43.

Local copy with permission from Elsevier.

https://doi.org/10.1016/0040-6090(94)06309-5

I. Levin, W.D. Kaplan, T. Wieder and D. Brandon:

Residual Stresses in Alumina-SiC Nanocomposites;

Acta Metallurgica et Materialia 42 (1994), 1147 - 1154.

Local copy with permission from Elsevier.

https://doi.org/10.1016/0956-7151(94)90131-7

G. Kimmel, L. Politi, T. Wieder:

Characterization of (Ti,Al)N Films by XRD and XRF;

Advances in X-ray Analysis 37 (1994), 175 - 182.

T. Wieder:

SBGBBG: A Computer Program For Strain/Stress Tensor Calculation From X-Ray Diffraction Data;

Powder Diffraction 8 (1993), 214 - 215.

https://doi.org/10.1017/S0885715600019382

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J. Zendehroud, T. Wieder, K. Thoma, H. Gärtner.

Tiefenauflösende röntgenographische Dehnungsmessungen an TiN-Schichten in Seemann-Bohlin-Geometrie;

Härterei-Technische Mitteilungen 48 (1993), 41 - 49.

https://doi.org/10.1515/htm-1993-480114

W. Siejkowski, A. Calderero-Lopez, T. Wieder and H. Gärtner:

X-Ray Analysis of Oxidized and Sulfidized Thin Nickel Films;

Metalurgia I Odlewnictwo (Polen) 17, (1991), 427 - 434.

H. Gärtner, K. Thoma, H. Volkmann, T. Wieder, A. Schmitt:

High-energy implantation of Kr+ into Ti;

Nuclear Tracks and Radiation Measurement (UK), 19 (1991), 885 - 890.

Local copy with permission from Elsevier.

T. Wieder:

Berechnung des (420)-Reflexprofiles einer gamma'-Fe_3N_(1-x)-Schicht mit Säulenstruktur und Dehnungsrelaxation;

Materialwissenschaft und Werkstoffkunde 22 (1991), 23 - 30.

Local copy (with permission from John Wiley and Sons for the pre-peer version only which I lost many years ago).

T. Wieder, W. Herr und H. Gärtner:

Berechnung von Röntgenreflexen für polykristallines Titan unter dem Einfluß von Stickstoffgradienten und Eigenspannungen;

Materialwissenschaft und Werkstoffkunde 20 (1989), 271 - 277.

Local copy (permission from John Wiley and Sons is for the pre-peer version only which I lost many years ago).

T. Wieder, K. Thoma and H. Gärtner:

New Scattering Formula for the Analysis of X-ray Line Broadening by Composition Profiles;

Applied Physics A 46 (1988), 165-167.

http://dx.doi.org/10.1007/BF00939259

K. Thoma, R. Färber, T. Wieder and H. Gärtner:

Structure and Fatigue Properties of Ion-plated Nickel Films on Steel;

Materials Science and Engineering 90 (1987), 327 - 332.

Local copy with permission from Elsevier.

Meine Veröffentlichungen: Kleinere Beiträge in Soziophysik und Kombinatorik

Thomas Wieder:

A simple matrix alteration method;

Applied Mathematical Sciences 13(14) (2019), 685 - 695.

https://doi.org/10.12988/ams.2019.9798

Thomas Wieder:

A toy model for hostility between two populations in dependency on their internal frustration;

International Mathematical Forum, 9(32) (2014), 1581 - 1593.

https://dx.doi.org/10.12988/imf.2014.49168

Thomas Wieder:

On the use of strategies attached to subpopulations in the description of competition among different populations;

International Mathematical Forum, 8(37) (2013), 1839 - 1851.

https://dx.doi.org/10.12988/imf.2013.310185

Thomas Wieder:

Addendum to "A simple differential equation system for the description of competition among religions";

International Mathematical Forum 7(54) (2012), 2681 - 2686.

Thomas Wieder:

Generation of all possible multiselections from a multiset;

Progress in Applied Mathematics 2(1) (2011), 61 - 66.

https://dx.doi.org/10.3968/j.pam.1925252820110201.010

Thomas Wieder:

A simple differential equation system for the description of competition among religions;

International Mathematical Forum 6(35) (2011), 1713 - 1723.

Thomas Wieder:

The number of certain rankings and hierarchies formed from labeled or unlabeled elements and sets;

Applied Mathematical Sciences 3(55) (2009), 2707 - 2724.

Thomas Wieder:

The Number Of Certain k-Combinations Of An n-Set;

Applied Mathematical E-Notes 8 (2008), 45 - 52.

https://www.emis.de/journals/AMEN/2008/070301.pdf

Buchbeitrag:

U. Schubert, T. Wieder:

Ein Strukturmodell des amorphen SiO;

Jutzi, Peter / Schubert, Ulrich (eds.)

Silicon Chemistry

From the Atom to Extended Systems

Wiley-VCH, Weinheim, 1. Auflage - Juli 2003

ISBN 3-527-30647-1.

Hochschulschriften:

T. Wieder:

Realstrukturaufklärung polykristalliner dünner Schichten mittels Röntgenbeugung;

https://karla.hds.hebis.de/Record/HEB060776064

Habilitationsschrift, FB Materialwissenschaft, TH Darmstadt, 1997.

Erschienen als elektronische Publikation bei Kassel University Press, ISBN 3-933146-01-1.

Kassel University Press

T. Wieder:

Eine neue Streuformel für die tiefenauflösende Röntgenstrahldiffraktometrie nach der kinematischen Theorie;

Dissertation, FB Physik, Gesamthochschule Kassel, 1988.

T. Wieder:

Röntgenweitwinkeluntersuchung am System As_2(Se_x – Te_(1-x))_3 ;

Diplomarbeit, FB Physik, Gesamthochschule Kassel, 1985.

Konferenzberichte, Posterzusammenfassungen:

T. Wieder:

The Debye scattering formula in n dimensions;

26 European Crystallographic Meeting, Darmstadt, 2010,

Acta Crystallographica A66 (2010), 217.

A. Hohl, T. Wieder, H. Fuess:

Ramanspektroskopie an Siliciummonoxid zur Untersuchung von Kristallitgrößen und Dynamik;

XXV. Tagung des Arbeitskreises nichtkristalline und partiellkristalline Strukturen,

AK4 der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie (DGK), Wolfersdorf bei Jena, 2004.

A. Hohl, T. Wieder, H. Fuess:

Ramanspektroskopische Untersuchung der Siliziumkristallisation in Siliziummonoxid;

XXIV. Tagung des Arbeitskreises nichtkristalline und partiellkristalline Strukturen,

AK4 der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie (DGK), Wolfersdorf bei Jena, 2003.

A. Hohl, T. Wieder, H. Fuess:

A Structural Model For Silicon Monoxide;

Conference on Non-Crystalline Inorganic Materials, Concim 2003, Bonn, 2003.

A. Hohl, T. Wieder, V. Joco, H. Fuess:

On the Structure of Amorphous Silicon Monoxide;

ILL Konferenz, Grenoble, 2002.

A. Hohl, T. Wieder, H. Fuess:

Disproportionierung in SiO;

XXIII. Tagung des Arbeitskreises nichtkristalline und partiellkristalline Strukturen,

AK4 der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie (DGK), Jena, 2002.

N. Bickulova, S. Danilkin, H. Fuess, V. Semenov, A. Skomorokhov, T. Wieder, E. Yadrowski, Z. Yagofarova:

Lattice dynamics and phys transititions in superionic conductor Cu2-δSe;

Proceedings of the Second German-Russian User Meeting “Condensed Matter Physics with Neutrons at IBR2”,

Frank Laboratory of Neutron Physics, Dubna, Russia, 2001.

A. Hohl, T. Wieder, H. Fuess:

Strukturaufklärung bei SiO;

XXII. Tagung des Arbeitskreises nichtkristalline und partiellkristalline Strukturen,

AK4 der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie (DGK), Wolfersdorf bei Jena, 2001.

M. Hölzel, S.A. Danilkin, A. Hoser, T. Wieder, H. Fuess:

Phonon dispersion austenitic steels;

Deutsche Neutronenstreutagung 2001, 19-21 Februar 2001, Jülich and Aachen, Abstracts, p. 14.

J. Sigmund, M. Saglam, A.Vogt, H.L. Hartnagel, V. Buschmann, T. Wieder, H. Fuess:

Microstructure analysis of Ohmic contacts on MBE grown n-GaSb layers and investigation of submicron contacts;

MBE-XI: International Conference on Molecular Beam Epitaxy, Beijing, China, 2000, Abstracts, S. 275.

A. Hohl, T. Wieder, H. Fuess:

Eine Studie zur Strukturaufklärung des Siliziummonoxids (SiO);

9. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie, Bayreuth, 2001,

Zeitschrift für Kristallographie, Supplement Issue 18 (2001), S. 66, ISBN 3-486-64267-7..

A. Njah, T. Wieder, H. Fuess:

Grazing excidence diffraction versus grazing incidence diffraction for strain/stress evaluation in thin films;

European Crystallographic Meeting ECM 19, Nancy 2000,

Acta Crystallographia A56 (Supplement, 2000), S. 136

Ch. Deneke, P. van Aken, T. Wieder:

Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie an SiO und a-SiO2;

XXI. Tagung des Arbeitskreises nichtkristalline und partiellkristalline Strukturen,

AK4 der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie (DGK), Wolfersdorf bei Jena, 2000.

Jürgen Schreiber, Achim Neubrand, Thomas Wieder, Meinhard Stalder, Nail Shamsutdinov:

Distribution of Macro- and microstress in Cu/W FGM;

Functionally Graded Materials 2000: Proceedings of the 6th International Symposium on Functionally Graded Materials;

Estes Park, Colorado, USA, September 10-14, 2000,

Ceramics Transactions, Volume 114, Wiley-Blackwell (2001), ISBN: 1-57498-110-2.

A. Njah, T. Wieder, H. Fuess:

Streifender Strahlausfall versus streifendem Strahleinfall für Spannungsermittlung an dünnen Schichten;

8. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie, Aachen, 2000,

Zeitschrift für Kristallographie, Supplement Issue No. 17 (2000), S. 203, ISBN 3-486-64264-2.

H. Fueß, M. Ghafari, A. Hohl, B. Stahl, T. Wieder, M. Winterer:

Nahordnung in Fe100-xScx aus EXAFS-Spektren;

8. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie, Aachen, 2000,

Zeitschrift für Kristallographie, Supplement Issue No. 17 (2000), S. 104, ISBN 3-486-64264-2.

T. Wieder, T. Pirling:

Eigenspannungen in einem W/Cu-Durchdringungskompositen;

7. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie, Leipzig, 1999,

Zeitschrift für Kristallographie, Supplement Issue No. 16 (1999), S. 137, ISBN 3-486-64264-2.

D. Zheng, T. Wieder, G. Miehe:

Eine Rietveld-Verfeinerung des amorphen SiO2;

7. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie, Leipzig, 1999,

Zeitschrift für Kristallographie, Supplement Issue No. 16 (1999), S. 131, ISBN 3-486-64264-2.

T. Wieder:

Rietveld-Analyse amorpher Strukturen;

XX. Tagung des Arbeitskreises nichtkristalline und partiellkristalline Strukturen,

AK4 der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie (DGK), Wolfersdorf bei Jena, 1999.

M. Baeva, A. Beskrovni, S. Danilkin, H. Fuess, E. Jadrowski, T. Wieder:

X-Ray and Neutron Study of Crystal Structure and Lattice Dynamics of Fe-Cr-Mn-

and Fe-Cr-Ni-Nitrogen Steels with Different Mn and Cr Content;

Deutsche Neutronenstreutagung, 25-27 May, 1999, Potsdam, Germany, Abstracts, p. 174.

T. Wieder:

Anwendung der generalisierten Debyeschen Streuformel

auf die Strukturbestimmung von amorphem SiO2;

6. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie, Karlsruhe, 1998,

Zeitschrift für Kristallographie, Supplement (1998), ISBN 3-486-64262-6.

S. Danilkin, H. Fuess, T. Wieder, H. Wipf , E. Yadrowski:

Interstitial Atom Effect on the Structure and Lattice Dynamics of Nb and Fe-based Alloys;

Proceedings of the German-Russian User Meeting, Condensed Matter Physics with Neutrons at IBR-2,

Frank Laboratory of Neutron Physics, Dubna, Russia, April 2-4, 1998, p. 111 - 116.

S. Danilkin, H. Fuess, E. Jadrowski, T. Wieder, H. Wipf:

X-Ray and Neutron Scattering Study of the Niobium-Oxygen Solid Solutions;

The Seventeenth International Conference on Applied Crystallography, August 31 – September 4, 1997, Wilsa-Jawornik, Poland.

S. Danilkin, H. Fuess, E. Jadrowski, T. Wieder, H. Wipf:

Crystal Structure and Lattice Dynamics of Niobium-Oxygen Solid Solutions;

Proceedings of the National Conference for Application of the X-ray, Synchrotron Radiation, Neutrons and Electrons in the Materials Science,

RSNE’97, Moscow-Dubna 25-29 May 1997, Russia, vol 3, p. 15 - 18.

T. Wieder, H. Fuess:

On the generalized Debye scattering equation;

Konferenzbericht European Powder Diffraction (EPDIC) 5, Parma, 1997,

Materials Science Forum 278-281 (1998), p. 100 - 105,

ISSN 0255-5476 (Trans. Tech. Publications, Schweiz),

Part 1 als Buch: ISBN 0-87849-808-7.

Extended Abstract

doi: 10.4028/www.scientific.net/MSF.278-281.100

T. Wieder, H. Fuess:

A generalized Debye scattering formula;

5. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie, Hamburg, 1997;

Zeitschrift für Kristallographie, Supplement No. 12, (1997), S. 208, ISBN 3-486-64256-1.

T. Wieder, H. Fuess:

Gitterkonstantenbestimmung an dünnen Schichten;

4. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie, Marburg, 1996,

Zeitschrift für Kristallographie, Supplement No. 11, (1996), S. 135, ISBN 3-486-64253-7

T. Wieder, J. Zendehroud:

Thermal Strains In Thin Films And Grazing Incidence X-Ray Diffraction;

European Crystallographic Meeting ECM 15, Dresden, 1994.

B. Dorn, M. Schwörer, T. Wieder, I. Munder:

Mechanical and Analytical Characterization of TiAlCN-films;

VI-th Israel Materials Science Conference, Dead Sea, 1993.

Rosa Santa, Thomas Wieder, Herwig Bangert, Alfred Wagendristel:

Stress and Grain Size Determination in Cu-Pb Sputtered Thin Films;

3rd European Vacuum Conference, EVC-3, Wien, 1991,

Pergamon Press, Oxford, 1992.

H. Gärtner, K. Thoma, H. Volkmann, Th. Wieder, A. Schmitt, D.M. Rück, B.H. Wolf:

High-Energy Implantation of Kr+ into Ti;

15th International Conference on Particle Tracks in Solids, Marburg, 3 - 7 September 1990,

Pergamon Press, Oxford, 1990, ISSN 0191-278x.

International Journal of Radiation Applications and Instrumentation. Part D. Nuclear Tracks and Radiation Measurements 19 (1991), 885 - 890.

doi: 10.1016/1359-0189(91)90334-E

W. Siejkowsi, T. Wieder, and H. Gärtner:

X-Ray Diffraction on oxidized and sulfidized Magnetron-sputtered thin Nickel films;

Powder Diffraction, Satellite Meeting of the XVth Congress of the International Union of Crystallography, Bordeaux, 1990.

Th. Wieder, K. Thoma, H. Gärtner:

Ion Implantation into metals at very high energies;

Proceedings of the Workshop on Experiments and Experimental Facilities at SIS/ESR, Darmstadt, March 30 – April 1, 1987,

GSI Report GSI-87-7, ISSN 0171-4546.

R. Färber, K. Thoma, T. Wieder und H. Gärtner:

Ionenplattierte Nickelschichten auf Stahl;

PVD '86, Internationale Tagung 11./12. März 1986 in Darmstadt, S. 309 - 324.

Annual Reports:

A. N. Skomorokhov, V. A. Semenov, A. Hohl, T. Wieder:

Experimental report on INS measurements on amorphous SiO performed using the DIN-2PI spectrometer;

Frank Laboratory of Neutron Physics, Joint Institute for Nuclear Research (JINR), Dubna, Russia, 2003.

A. Hohl, T. Wieder, H. Fuess, A. Njeh, A. Zimina, S. Eisebitt:

Resonant inelastic X-ray scattering on amorphous silicon monoxide (SiO);

BESSY Jahresbericht 2003, Berlin, 2003.

A. Hohl, T. Wieder, V. Joco, H. Fuess, S. Gottschalk, A. Volland, M. Ghafari, M. Fieber-Erdmann:

EXAFS spectroscopy of amorphous iron-scandium alloys Fe100-xScx;

BESSY Jahresbericht 2002, Berlin, 2002.

A. Hohl, T. Wieder, V. Joco, H. Fuess, M. Fieber-Erdmann, and F. Schäfers:

Si K-edge NEXAFS spectroscopy of amorphous silicon monoxide (SiO);

BESSY Jahresbericht 2002, Berlin, 2002.

T. Wieder, A. Hohl, M. A. Gonzalez:

The Structure of Amorphous Siliconmonoxide SiO;

ILL Annual Report 1999.

S. Danilkin, T. Wieder, H. A. Graff, A. Hoser:

Phonon dispersion in Fe-Cr-Mn(Ni) austenitic steel;

HMI Jahresbericht 1999, Hahn-Meitner-Institut, Berlin, 1999, p. 147 .

A. Hohl, T. Wieder, M. Ghafari, B. Stahl, M. Winterer, M. Tischer:

Short Range Order in Fe(100-x)Sc(x) from EXAFS spectra;

HASYLAB Annual Report 1999,

HASYLAB, Hamburg, 1999.

A. Hohl, T. Wieder, M. Knapp:

Radial Distribution Function of Silicon Monoxide (SiO);

HASYLAB Annual Report 1999,

HASYLAB, Hamburg, 1999.

C. Wahl, T. Wieder, M. Knapp:

Residual stresses in an interpenetrating W/Cu composite;

HASYLAB Annual Report 1998,

HASYLAB, Hamburg, 1998.

D. Zheng, T. Wieder, K. Haberle, M. Knapp:

Rietveld refinement of amorphous SiO2;

HASYLAB Annual Report 1998,

HASYLAB, Hamburg, 1998.

H. Wipf, S. Danilkin, E. Jadrowski. H. Fuess, T. Wieder:

X-ray and neutron scattering study of the Nb-O-solid solutions;

Frank Laboratory of Neutron Physics of the Joint Institute for Nuclear Research (JINR), Dubna, Russia, 1998.

D. Zheng, T. Wieder, B. Breidenstein, H. Fuess:

Rietveld refinement of amorphous SiO2;

Euroseminar Integrated Analysis of Defect Structures in Crystalline Materials,

Freiberg/Sa., November 23 - 27, 1998, Technische Universität, Bergakademie;

T. Wieder, T. Priling, A. Neubrand, H. Fuess:

Residual Stress Measurement in a Gradient Material;

ILL Annual Report 1997,

ILL, Grenoble, 1997.

W. D. Kaplan and G. Kimmel, T. Wieder, K. Thoma and H. Gärtner:

Ion Implantation of MoNi and La-Ga Alloys;

GSI Scientific Report 1990, Gesellschaft für Schwerionenforschung,

Darmstadt 1991, p. 238, ISSN 0174-0814.

T. Wieder, K. Thoma and H. Gärtner:

Surface strains in polycrystalline metals induced by deep ion implantation;

GSI Scientific Report 1988, Gesellschaft für Schwerionenforschung,

Darmstadt 1989, p. 239, ISSN 0174-0814.

T. Wieder, W. Herr and H. Gärtner:

Calculation of the influence of a nitrogen concentration gradient on

the results of X-ray residual stress measurements;

GSI Scientific Report 1988, Gesellschaft für Schwerionenforschung,

Darmstadt 1989, 238, ISSN 0174-0814.

T. Wieder, K. Thoma and H. Gärtner:

Implantation of Cs ++ into Ti;

GSI Scientific Report 1987, Gesellschaft für Schwerionenforschung,

Darmstadt 1988, p. 266, ISSN 0174-0814.

T. Wieder, K. Thoma and H. Gärtner:

Depth Resolving X-ray Analysis of Ion Implanted Metal Surfaces;

GSI Scientific Report 1987, Gesellschaft für Schwerionenforschung,

Darmstadt 1988, p. 267, ISSN 0174-0814.

T. Wieder, K. Thoma and H. Gärtner:

X-ray analysis of Cs implanted into Ti;

GSI Scientific Report 1986, Gesellschaft für Schwerionenforschung,

Darmstadt 1987, p. 247, ISSN 0174-0814.

Meine Programme

Mathematik / Mathematics

1. MULTISELECTION

MULTISELECTION generates multiselections from multisets.

Maple worksheet Multiselection.mw Maple program Multiselection.mpl

Thomas Wieder: Generation of all possible multiselections from a multiset,

2. ENUM

ENUM generates contingency tables with given shape and row and column sums.

Maple worksheet enum.mw Maple program enum.mpl

3. MULTICHOOSE and MULTISUBSET

Generate multiselections from multisets.

Maple worksheet for program multichoose.mw Maple program multichoose.mpl http://www.maplesoft.com/applications/ http://www.maplesoft.com/email/maplereporter/apr10/

Maple worksheet multisubset.mw Maple program multisubset

4. HANKEL

Evaluate the Hankel transform (Fortran).

HANKEL

Evaluate the Hankel transform (Fortran).

T. Wieder: Numerical Hankel transform by the Fortran program HANKEL;

Transactions on Mathematical Software (TOMS) 25 (1999), 240 - 250.

5. OPTM0

Selection of optimal submultisets from a multiset.

OPTM0.pdf OPTM0.f95 simulated_anneal.f95 LIMITS.f95 AUXILIARY.f95 OPTM0.in OPTM0.out

6. MULTISELECTION_FROM_MULTISET

Yet another Maple program for multiselections from multisets (one after the other):

Multiselection (2nd approach) next_ordered_fixed_length_partition.mpl Multiselection_From_Multiset.mw

Röntgenbeugung / X-Ray Diffraction:

1. DMRM

Two-dimensional deconvolution by Siska's method (Fortran).

DMRM

2. GDSF

Evaluate the Generalized Debye Scattering Formula (Fortran).

GDSF

T. Wieder: A generalized Debye scattering formula and the Hankel transform;

Zeitschrift für Naturforschung 54a (1999), 124 - 130.

3. SBGBBG

X-ray Residual Stress Determination (Fortran).

SBGBBG Download SBGBB (Crystallography source code museum)

4. WVM

Lattice Constants in Thin Films (Fortran). WVM

T. Wieder: WVM: A computer program for the determination of lattice parameters and strains in thin films;

Computer Physics Communications 96 (1996), 53 - 60.

Materialia

1. A Maple program to calculate the number of k-combinations from a multiset according to MacMahon's formula.

Maple program MacMahonsMultisetFormula.mpl Maple program Number_of_k_Combinations.mpl

2. Calculate the n-dimensional Surface Spherical Harmonics according to the definition by Harry Bateman.

Maple worksheet SSHY.mw Maple program Y.mpl Y.pdf http://www.maplesoft.com/email/maplereporter/July09/

GESIS Habilitiertenregister

Meine Habilitation im Fach Materialwissenschaften (1996, TU Darmstadt) ist dokumentiert im offiziellen GESIS-Datensatz Habilitiertenregister deutscher Universitäten (ZA6263), der alle Habilitationen in Deutschland zwischen 1981 und 2014 erfasst.
📎 Eintrag: Zeile 15909 in der Datei ZA6263_v1-0-0.csv
🔗 DOI: 10.4232/1.13600
🏛 Herausgeber: GESIS – Leibniz-Institut für Sozialwissenschaften

Erdös-Zahl

Erdős number = 3 (via N. J. A. Sloane and R. L. Graham)

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Letzte Änderung: 08.09.2025

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