雷射熔蝕-感應耦合電漿-質譜儀 LA-ICP-MS Lab

   
感應耦合電漿質譜儀為精密無機化學分析儀器,具有分析快速、使用樣本量少、線性範圍大、偵測極限低、多元素同時分析等特性,在環境分析、地質研究、工業生產等領域均有重要的應用。

感應耦合電漿質譜儀係利用6,000 - 10,000 K的高溫氬氣電漿將待測樣本內的元素離子化,氬氣第一游離能約15.76 eV,因此氬氣電漿可使大多數的元素脫離一個電子,同時僅允許極少數的元素(如CeBa)脫離兩個以上的電子以避免干擾。這些帶正電的離子經過一系列的介面與光學系統後,進入四極柱分析系統,電腦會依使用者所選定的待測元素次序地導引進入偵測系統、量測訊號強度,以達精密分析的目的。

利用雷射剝蝕技術,可讓感應耦合電漿質譜儀直接量測固態樣本,不但大幅降低樣本前處理的步驟,同時亦可拓展質譜儀的應用領域。