令和7年 第12回
共同利用分析機器講習会
（2025.10.20～10.30）
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令和7年第12回共同利用分析機器の講習会を開催します。学部を問わず、学内の全教員・研究員・学生の方々を対象としておりますので、ご興味がありましたらこの機会にぜひご参加ください。 ※要申込
装置を新規で使う予定がある方は、装置トラブルを回避するためにも必ずご参加いただきますようお願い致します。講習を受けていない方は機器をご利用いただけませんのでご注意ください。
講習機器一覧
講習機器一覧
●高分解能核磁気共鳴装置（NMR）/JNM-ECZ500R, JNM-ECX400P
●光電子分光分析装置（ESCA）/ESCA-3400
●二重収束質量分析計（DI-MS）/JMS-700D
●熱分析システム（TG-DTA, DSC）/EXSTAR6000
●蛍光X線分析装置（XRF）/Supermini200
●フーリエ変換赤外分光システム（μFTIR）/Spectrum100
●試料水平型多目的X線回折測定装置（XRD）/Ultima Ⅳ
●X線界面構造解析装置（XRR）/SmartLab-nm
高分解能核磁気共鳴装置（NMR）
高分解能核磁気共鳴装置（NMR）
物質の分子構造解析装置。物質中の原子配置、電子構造、分子の微細構造等に関する情報が得られます。
光電子分光分析装置（ESCA）
光電子分光分析装置（ESCA）
サンプル表面の構成元素とその電子状態を分析する装置です。
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NMR 詳細
【講義】
日時：10月20日（月）9:30～10:30
場所：オープンイノベーション施設2階セミナー室※
※人数が多い場合は場所が変更となります（変更の場合連絡あり）
内容：測定原理と装置の構造、利用方法（利用に関する注意事項と予約方法等）、測定手順（試料調整、測定手順と注意事項）および得られる測定データ（データ処理方法と保存等） について
【実習】
日時：①10/20（月）11:00～、②10/20（月）13:00～、③10/22（水）11:00～
※①～③は同一内容 目安 1時間
場所：オープンイノベーション施設1階104実験室
内容：実際の測定手順の体験と注意事項の確認
担当者：田村 雅史（工学研究科技術部 技術長）
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ESCA 詳細
【講義】
日時：10月21日（火）9:30～10:30
場所：オープンイノベーション施設2階セミナー室※
※人数が多い場合は場所が変更となります（変更の場合連絡あり）
内容：測定原理と装置の構造、得られるデータについて、利用方法（利用に関する注意事項と予約方法等）と測定手順（測定試料、測定手順と注意事項、データ処理、保存）について
【実習】
日時：①10/21（火）13:00～、②10/23（木）9:30～、③10/23（木）13:00～
※①～③は同一内容 目安 2時間半
場所：オープンイノベーション施設3階304実験室
内容：実際の測定手順と測定データ処理の体験および注意事項の確認
担当者：田村 雅史（工学研究科技術部 技術長）
二重収束質量分析計（MS）
二重収束質量分析計（MS）
低分子化合物の精密質量を分析する装置です。
熱分析システム（TG-DTA, DSC）
熱分析システム（TG-DTA, DSC）
物質の温度を変化させることで、物理的または化学的性質を測定する装置です。
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MS 詳細
【講義】
日時：10/22（水）10:00～11:00
場所：オープンイノベーション施設2階セミナー室※
※人数が多い場合は場所が変更となります（変更の場合連絡あり）
内容：測定原理、測定方法の紹介、測定時の注意事項について
【実習】
日時：①10/22（水）13:00～、②10/22（水）15:00～、③10/24（金）10:00～
※①～③は同一内容 目安 1時間半
場所：オープンイノベーション施設2階202実験室
内容：直接導入法による測定操作及びデータ処理実習
担当者：中子 元芳（研究基盤推進機構 技術員）
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TG-DTA，DSC 詳細
【講義・実習】
日時：①10/24（金）13:30～、②10/30（木）13:30～
※①、②は同一内容 目安 1時間半
場所：オープンイノベーション施設３階305実験室
内容：熱分析の基礎知識と測定に必要な準備（試料、ガスボンベ、液体窒素）、TG-DTA・DSCの操作方法および解析方法について
担当者：古川 真衣（工学研究科技術部 技術員）
蛍光X線分析装置（XRF）
蛍光X線分析装置（XRF）
固体試料の構成元素を定性分析・定量分析できます。
フーリエ変換赤外分光システム（μFTIR）
フーリエ変換赤外分光システム（μFTIR）
物質の分子構造解析、官能基の評価ができます。
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XRF 詳細
【講義・実習】
日時：10月27日（月）10:30～ 目安 1時間半
場所：オープンイノベーション施設3階304実験室
内容：蛍光ｘ線分析の基礎知識と測定試料について、機器操作方法、試料作製および解析方法について
担当者：古川 真衣（工学研究科技術部 技術員）
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μFTIR 詳細
【講義・実習】
日時：①10/27（月）14:00～、②10/28（火）13:00～、③10/29（水）13:00～、④10/29（水）15:00～
※①～④は同一内容 目安 1時間
場所：オープンイノベーション施設3階304実験室
内容：FTIRの基礎知識、ATR法を用いた測定操作講習、データ解析
※今回の講習では顕微側ユニットを用いた操作は実施しません。
担当者：中子 元芳（研究基盤推進機構 技術員）
試料水平型多目的X線回折測定装置（XRD）
試料水平型多目的X線回折測定装置（XRD）
結晶質・非晶質の判定及び化合物としての評価（結晶構造、定性分析）ができます。
X線界面構造解析装置（XRR）
X線界面構造解析装置（XRR）
薄膜の膜厚、密度、粗さを評価できます。
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XRD 詳細
【講義・実習】
日時：①10/28（火）10:00～、②10/28（火）14:00～、③10/29（水）10:00～、④10/29（水）14:00～
※①～④は同一内容 目安 1時間
場所：オープンイノベーション施設1階101実験室
内容：X線回折の基礎知識とごく基本的な粉末試料の測定法、解析ソフトの使い方について
担当者：藤田 由紀子（工学研究科技術部 技術員）
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XRR 詳細
【講義・実習】
日時：10月28日（火）16:00～ 目安 1時間
場所：オープンイノベーション施設1階101実験室
内容：X線反射率の基礎知識とごく基本的な薄膜試料の測定法、膜厚決定について
担当者：藤田 由紀子（工学研究科技術部 技術員）
※講習会には事前の申込が必要です。＜申込〆切 10月8日（水）17時＞
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