[2015-04-20] 보드마스터를 이용한 산업용 보드 점검 방법 및 사례


보드마스터를 이용한 점검 사례
"일반적인 산업용 보드에 대한 건전성 진단 및 고장 검출은 어떻게 수행되는가?"
  
수리 보드 소개 및 분석
고장 진단을 수행하기 전에 수리할 보드의 기능을 분석하고 진단 방향을 수립할 것 입니다.
이 단계는 엔지니어가 회로 보드의 노화에 따른 고장 검출 및 진단 능력을 향상할 수 있을 뿐만 아니라 이전에 수행했던 분석을 비교하여 회로 보드 에 대한 고장 검출 능력을 향상시키기 위함입니다.

사진 1. 고장 진단 보드

위의 보드는 회로 기능에 따라 세 부분으로 나눌 수 있습니다:
  1. Red Zone : 보드의 오른쪽 하단의 위치한 16PCI954소자(160핀 TQFP패키지)는 PCI 인터페이스 전용 IC로 20Mhz 크리스탈 발진기로 EEPROM과 시리얼 통신으로 동작합니다.
  2. Blue Zone : 보드 중앙의 하단에 5V 전원 컨버터가 위치하고 있습니다. 이 회로는 두 종류의 +5V 전원을 구분하기 위하여 사용됩니다. 이 회로 보드는 두 개의 +5V 전원을 공급한다. 컨버터 회로는 전원을 구분하기 위하여 사용됩니다. 회로 보드의 전원에 문제가 발생했을 경우, Blue Zone(컨버터 회로)을 검사할 필요가 있습니다.
  3. Yellow Zone : 보드의 좌측에 가장 많은 IC를 포함하고 있습니다. 이 블록은 디지털 소자, 구동분리소자로 구성되어 있습니다.
  4. 이 회로 보드의 패널에는 통신 인터페이스 LED 4개 그룹과 전원 5VD와 5VA의 LED두개가 있습니다. 이러한 LED로 보드의 오류 상태를 알 수 있습니다.

 사진 2. 고장 진단 보드 전면 패널 모습

보드 확인 및 테스트 절차
Blue Zone: 일반적으로, 이 경우에는 부품의 불량이 초기 시험에서 발견되지 않았습니다. 다음 단계는 전원동작을 확인하는 것입니다. 먼저 전원 오류 부분을 확인해야 다음 단계인 부품 기능테스트를 통해 해결할 수 있습니다.

 사진 3. 고장 진단 보드 전면 패널 모습

MIS모듈의 측정 기능 또는 ATM모듈의 Short Locator기능을 사용하여 두 개의 5V 전원 공급 장치를 확인합니다. Red Zone은 5VA와 AGND, Blue Zone은 5VD와 DGN를  사용합니다. Yellow Zone은 두 가지 전원을 동시에 사용합니다.

COSEL의 5V 단일전압 DC-DC 컨버터의 출력 전압은 5V/300mA이고, 허용 입력전압은 +4V~+9V이며, 5.01V의 출력 전압을 가지고 있다. 하지만 전원 공급장치로 직접 전원을 보드에 주고 있기 때문에 다른 부품의 손상을 주지 않기 위하여 VPS로 +4V~+5V범위 내에서만 전압을 인가하여야 하고, MIS모듈로 출력의 변화를 모니터링 해야 합니다.

측정 시, 컨버터의 핀이 (납땜면) 뒤편에 위치하기 때문에 편리하게 측정하기 위해 커패시터의 부품면에 프로빙 할 수 있습니다.



전원 인가 테스트 전에, 이 컨버터의 내부 단락 또는 누설의 문제를 방지 하기 위해 먼저 입력 및 출력에 대해 V-I 테스트를 해야 합니다.
직접 전원을 보드에 인가하는 경우 손상을 줄 수 있기 때문에 AICT 모듈의 V-I 테스트로 먼저 검사를 수행합니다. 아래의 그림에서 녹색 곡선은 입력 파형 이고, 노란색 곡선은 출력 파형을 표시합니다. 다른 부품과의 연결된 부하 때문에 V-I곡선 특성은 약간 다르지만 기본적으로 단락 현상은 없는 것으로 확인되고 따라서, 직접 테스트를 진행할 수 있습니다.

 사진 4.  AICT 를 이용한 V-I 시험

VPS모듈로 컨버터 입력 전압과 같은 로직 전원을 사용합니다. 입력이 4V인 경우 컨버터 출력 전압은 기준 전위 5.06V가 도달합니다. 입력을 5V까지 올렸을 때, 컨버터 출력 전압이 5.06V를 유지합니다. 이 테스트로 컨버터는 정상임을 확인하였고, 다음 IC기능 테스트를 진행할 수 있습니다.

IC 기능 테스트 방법
1. Jumper는 왼쪽 그림과 같이 보드의 통신 모드를 선택하기 위해 사용됩니다. 현재 네 채널은 RS232 모드로 설정되어 있고, 각 네 채널은RS232와 RS422 모드를 선택할 수 있습니다.

2. 이 부품은 시리얼 타입의 EEPROM(93C46)입니다.  고정된 내부 코드 데이터를 리더기를 사용하여 추출하여 읽고 확인 할 수 있습니다.

3. 이 부품은 20Mhz 크리스털 오실레이터입니다. 가장 정확하게 측정하는 방법은 MIS 모듈의 Frequency  Counter를 사용하여 구동시키고,  MIS 모듈의 오실로스코프를 사용하여 발진파형을 확인하여 문제가 발생하였는지 확인합니다.

4. 이 부품은 PCI 통신 인터페이스 모듈입니다. 이것은 TQFP 패키지로 구성되어 있어서 측정을 하기가 어려운 단점이 있습니다. 이 부품 주변에는 데이터 통신을 목적으로 IC  각 핀에 저항(10옴, 전류제한)이 연결되어 있습니다. 하지만 더 큰 문제가 생기는 것을 방지하기 AICT 모듈 또는 AMS모듈의 V-I  테스트로 확인합니다..

5. 이 부품은 2A 퓨즈이고, 정상일 때 단락 됩니다.


다음 사진의 Yellow Zone 통신을 위한 디지털 IC로써 RS232 통신 IC, 신호 절연을 위한 포토 커플러, 디지털 논리 IC 구성되어 있습니다
SP232AC - 이 부품은 RS232 신호 구동 소자입니다. 1개의 소자에  2개의  RS232  채널이 있어, 총 네 개의 채널을 가집니다.

DS26LS31/32 - 이 부품은 디지털 신호 RS422 통신 표준 부품으로 사용됩니다.

MOCD207 - 신호 절연을 위한 포토커플러이며, 다른 두 가지 5V 전압에 대한 신호 절연을 위한 부품입니다.

74HCT14 - 디지털 논리 IC로써,6개의 Inverter 가 있습니다.

TLP2631 - 디지털 데이터 버퍼용 포토커플러입니다. 논리 신호 및 다른 두개의 전원에서도 동작합니다.

74HCT244 - 디지털 로직 버퍼입니다.  8 Bit 데이터 버스 구동.

74FCT393 - 4Bit 디지털 카운터입니다.


사진 1에서와 같이 보드를 세 구역으로 분리 해 특징을 요약하고 기본 분석을 수행한 결과 다음의 모듈을 사용하면 점검을 수행할 수 있습니다.

     - 1 x VPS (Variable Power Supply) : 가변 전원 공급 모듈
     - 1 x MIS (Multiple Instrument Station) : 다기능 측정 장치 모듈
     - 1 x AICT (Analog IC Tester) : 아날로그 부품 테스트 모듈 (또는 AMS 3D VI Curve 모듈)
     - 1 x ATM (Advanced Test Module) : 디지털 부품 테스트 모듈 (또는 BFL 모듈)

모든 모듈들을 이용한 측정 및 검사, 고장 진단은 SYSTEM8 Ultimate 소프트웨어를 사용합니다.

상세한 보드 테스트 과정 설명 (SYSTEM 8 Ultimate S/W)
SYSTEM8 Ultimate는 소프트웨어로, SYSTEM8 모듈을 연결하기 위한 USB 통신 포트와 드라이버 소프트웨어를 설치합니다. 실제 측정은 다음의 경우 뿐만 아니라, 보드 테스트를 수행하는 화면의 다양한 구성 요소를 설명합니다.

SP232AC IC TEST
U32, U33에 위치하며, 다음 테스트는 ATM과 VPS모듈을 사용합니다.

  • 테스트 전원을 공급하기 위해 VPS 모듈을 사용하고, 디지털 부품을 테스트하기 위해 ATM 모듈을 사용합니다. 테스트 결과는(위와 같이) 소프트웨어에서 부품의 다이어그램을 보여주고,  각 핀의 연결상태, 전압 값, 상태 메시지를 표시하고 있습니다.
  • 다음은 각 핀의 상태 메시지 설명 
    LOW:  Low논리 레벨보다 낮은 전압
    HIGH:  High 논리 레벨보다 높은 전압
    SHV+: 입력단자의 +전압 연결
    SHV-: 입력단자의 –전압 연결 또는 GND 연결
  • DATASHEET의 그림에 따라 전원, 전압, 인버터 회로 등을 포함하고 있습니다. +V와 –V측정 위치에서는, 입력전원 전압 값보다 커야 합니다. 표준 전압 범위는 6V~9V 이고, 출력신호 레벨 T1Out과 T2OUT은 직접적인 관계가 있기 때문에, RS232 신호 레벨은 전압 신호 레벨과 일치합니다. 
 
  • 첫 번째 테스트에서, SP232 부품의 동작 전압 및 상태를 측정할 수 있습니다. +5V를 입력한 후, +V와 -V에서 측정된 신호 전압은 6V ~ 9V사이이며, 이것은 부품 사양과 일치합니다. 따라서, 이 테스트에서는 이상이 없음을 확인할 수 있습니다.
  • 두 번째 테스트 에서는, SP232 부품의 Logic 동적 상태를 측정할 수 있습니다.  송신 테스트에서, TTL로직의 입력 신호 변화는 출력될 것이며, 이것은 부품 사양과 일치합니다. 수신 테스트에서는, RS232기준 입력 신호의 변화는 반전되어 TTL 논리게이트 신호 변화가 출력 되어질 것이며, 이것도 부품 사양에 일치합니다. 위의 결과로 부터 SP232 부품에 대한 테스트는 정상임을 알 수 있습니다 .
  • SP232 부품 측정 과정에서, 이 부품의 동작 특성 때문에 두 개의 다른 테스트 단계를 통해 문제를 찾아낼 수 있습니다. 또한 송신 인터페이스 IC로써,  정확하게 테스트 하기 위해 허용되는 사양에 동작하는지, 두 개의 서로 다른 전압 변화에 동작하는지 여부를 확인하는 검출 기술이 필요합니다. 다음 부품은 이 부품보다 더 복잡합니다

DS26LS31/32  IC TEST
  • U17,U24, U31에 위치하며, 다음 테스트는 ATM과 VPS모듈을 사용합니다.
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    • DS26LS31가장 일반적인 신호RS422통신 인터페이스의 구동소자로써 사용된다.통신인터페이스 신호의 구동소자이다. 해당 로직 레벨 입력 신호로 보통, High 및 Low 논리 신호 출력을 2개의 그룹으로 간주할 수 있습니다. 동일한 4개의 패키지 게이트가 있습니다. 소프트웨어의 자동화된 4개의 기능테스트가 있으며 각 핀의 전압과 연결상태를 감지한다. 왼쪽의 구성요소에서 주요한 다이어그램  및 각 핀의 상태 메시지 설명.
      L1: 표시된 핀의 연결된 상태를 나타냅니다.
      OPCT : 핀의 상태가 Open임을나타냅니다.
    • 다음과 같이 소프트웨어 테스트를 통해 정상으로 작동하는지 확인할 수 있습니다.
     
     
    • DS26LS32는 RS422통신을 사용하는 가장 일반적인 드라이브 인터페이스입니다. 디지털 논리 신호 입력들의 조합을 DS26LS32는 하나의 디지털 논리 신호로 반대로 출력합니다.  동일한 4개의 패키지 게이트가 있습니다. 소프트웨어의 자동화된 4개의 기능 테스트가 있으며 각 핀의 전압과 연결상태를 감지합니다.
    • 각 핀의 상태 메시지 설명:
      IPML: 이 핀의 입력 신호가 Low레벨과 Switching 한계 설정치 사이입니다.
      IPMH: 이 핀의 입력 신호가 Switching 과 고출력 임계 값 설정 사이입니다.
    • 이와 같은 소프트웨어 테스트를 통해 정상 작동하는지 확인할 수 있습니다. 
    74HCT14  IC TEST
    디지털 IC로 ATM의 Advanced IC Tester Instrument로 시험을 수행합니다.
     
    • 74HCT14 는 디지털 인버터이며, 6개 그룹으로 구성됩니다. 소프트웨어 기능 테스트에서 자동으로 각각의 논리 게이트를  테스트할 수 있습니다.
    • 회로보드 안에서 각 핀의 연결 상태 (Connection test) 메시지(L1, L2, L3)통해 회로 설계의 원칙을 충족하는지 확인할 수 있습니다. 3개의 각 연결 정보를 통해 해당하는 게이트의 출력이 입력 측에 연결되어 있음을 알 수 있습니다.  이 회로의 동일한 논리 게이트 출력 입력 단계 또는 논리 게이트 출력에 연결하는 경우 정상, 비정상을 알 수 있습니다.
    • 이와 같은 로직 레벨 테스트를 통해 디지털 IC가 정상 작동하는지 확인할 수 있습니다.
       
       
    74FCT244  IC TEST
    U16,U22,U15,U14,U8,U9 에 위치하며, 다음테스트는 ATM과 VPS모듈을 사용합니다.
     
     
    • 74FCT244는 디지털 데이터 BUS 컨트롤 유닛 컨버젼스.  8개 그룹(비트) 단방향 디지털 버퍼 게이트 부품으로  소프트웨어는 자동으로 각 게이트를 테스트 합니다.
    • 각 핀의 상태 메시지는 다음과 같습니다.
      - FLOT:  이 핀이 유효한 논리 레벨에 의해 구동되지 않고 있다.
      - CLFT:  이 부품의 출력핀이 다른 부품의 출력 사이에서 충돌이 발생합니다.
    • 위와 같이 소프트웨어 테스트를 통해 정상 작동하는지 확인할 수 있습니다.

     
    74LS393  IC TEST
    U6에 위치하며, 테스트는 ATM과 VPS모듈을 사용합니다.
     
     
    • 74LS393는 4자리 카운터를 포함하는  2개 그룹으로 구성되어 있습니다. 입력 주파수에서 마이너스 마진이 시작돼 QD와 QA는 다른 주파수의 디지털 신호를 출력합니다.  소프트웨어가 기능테스트 하는 동안 오류가 발생하였습니다. 결과는 논리적인 순서에 읽도록 하기: a, QA그룹 카운터 신호입력 주파수 신호 및 트리거 동작에 의해 유일한 마이너스 단을 트리거 할 수 있어야 합니다. 그룹 b는 QA측 신호 출력이 없습니다. 그래서 이 부품은 문제가 있는 부품입니다.
    • 각 핀의 상태 메시지는 다음과 같습니다.
      - HIGH: 기능테스트 중 이 핀은 한번 이상의 HIGH 신호가 있었다.
      - LOW: 기능 테스트중 이 핀은 한번 이하의 LOW신호가 있었다..
    • 타이밍 논리 순서도의 오류 위치는 빨간색 블록으로 표시 됩니다.
     
    TP2631 IC TEST
    U19,U21,U23,U29,U26에 위치하며,다음 테스트는 ATM VPS모듈을 사용합니다
     
    • TLP2631 발광 결합 부품을 내장하고 있는 두 그룹의 논리 게이트로 반전된 결과를 출력합니다. 이는 회로도에 의해 분석할 수 있듯이 발광다이오드의 양단의 입력 신호는 반전 논리게이트에  구동 신호를 송신합니다. 출력 포트는 오픈 컬렉터 타입이고 테스트를 하기전에 출력핀이 발생하는 전압을 향상시키는 풀업저항의 존재 여부를 테스트해야 합니다.
    • 소프트웨어 실행 결과 : 출력이 4V이상의 전압 값을 가지며, 입력 VCC와 GND가 있습니다.
    • 5V 전압 소스로 다른 성분의 두 그룹이 독자적으로 구성돼야 할 기능테스트가 PIN1과 PIN 4의 전위를 연결되어 있기 때문에, 같은 논리 타이밍 상태로 작동하도록 설정 할 수 있다.
    • 로직의 완료 시점을 설정한 후, 부품의 테스트 전원을 조절할 수 있습니다..
    • 이와 같은 소프트웨어 테스트를 통해 정상 작동하는지 확인할 수 있습니다.
    MOCD207 IC TEST
     U7,U10,U11,U12,U13에 위치하며, 다음 테스트는 AICT 모듈 사용합니다.
      
     
    • MOCD207 는 포토커플러 모듈 두 세트로 구성되어 있습니다. 표준 포토커플러 소자이기 때문에 AICT 모듈의 시험에서 매개변수 값을 테스트 할 수 있습니다. 또한 외부 전원 없이 직접 측정 할 수 있습니다.
    • 소프트웨어 테스트 윈도우 좌측 하단은 다음과 같이 설명되어 측정하여 분석된 매개변수 값이 표시 됩니다.
      - CTR: (Current Transfer Ratio) 전류 전달 비율.
      - Vled: 다이오드 순방향 입력 전압 값.
    • 소프트웨어 테스트 결과, “I>>” 메시지는 이 핀에 전류가 너무 높거나 낮은 임피던스상태를 의미합니다. 이 시험의 결과는 포토커플러에서 매우 일반적으로 나타날 수 있는 것으로 현재 Connection Test를 실시하고 있기 때문에 다른 회로에 영향을 줄 수 있습니다. 
     
    회로 보드의 BLUE ZONE 점검
    이 블록은 주로 5V 전원 공급장치이며, 이전 테스트에서 방법을 설명한 바 있습니다.

     
    • 이 구역에 일부 부품들은, 입력된 전원 공급 장치 및 회로 보드 전원공급 장치와 큰 관계가 있습니다.
      - Red Box: 2A SMD 퓨즈 부품이며, 연결된 적색 케이블은  5V의 입력 전압으로 사용된다.
      - Blue Box: 전원 변환기의 입력 커패시턴스.(+)단자는 5VD이며 (-)는 DGND입니다. 
        따라서 전원 라인에 마이너스 단자에 접속된 것처럼 터미널로 입력 전압에 연결됩니다.
      - Yellow Box : 전원 변환기의 입력 커패시턴스.(+)단자는 5VD이며 (-)는 AGND입니다. 
        전원선에 접속 된 마이너스 단자는 소자의 공통 접지 단자의 일부로서 사용에 따라서 공통단자 ATM 모듈 패널에 연결해야 한다.

     회로 보드의 RED ZONE 점검
     

    • 이 구역은 주로 크리스탈 발진기, EEPROM, 범용 PCI 인터페이스 IC 등 세가지 부품으로 구성되어 있다.
    • 사전설명: EEPROM은 IC 내부 데이터를 읽거나 비교할 때 사용할 수 있습니다. OX16PCI954는 해체 및 측정이 쉽지 않아, 외부 테스트 핀을 제어합니다.

    다음은 다른 부분에 대한 검출방법입니다.

    크리스탈 발진기
    MIS의 오실로스코프에서 출력 파형의 확인 뿐만 아니라 주파수 측정도 사용할 수 있습니다. 아래와 같이, MIS  오실로스코프의 측정채널 CH1  프로브를 연결하고 발진기 신호 출력 핀을 직접 측정합니다. 전송 후 사인파 출력 클래스에 의해 생성 되는 크리스탈 발진기 파형은 전면(부품면)으로부터 신호 출력 단자를 측정하기 쉽지 않아 회로보드의 뒷면에서 출력을 측정 할 수 있습니다.

     
    측정결과, 우리는 이 오실로스코프를 활용하여 측정된 진동파형의 매개변수들을 위와 같이 자동으로 표시할 수 있습니다. 파형의 형상으로, 파형구간의 변화량(노란색으로 표시)에 대한 설정 마스크 함수를 설정하여 측정할 수 있습니다. 향후 동일한 소자 또는 회로 보드가 있을 경우 측정파형을 비교할 수 있도록 측정 결과를 저장하여 사용 할 수 있습니다.

    OX16PCI954 연관부품 검사방법
    이 부품은 작은 SMD 저항 부품들로 둘러싸인 것을 볼 수 있습니다. 저항을 측정하기 위해 일반적으로 디지털 멀티미터를 활용하여 테스트 할 생각을 합니다. 그러나, IC부품의 핀에 연결 되어 있기 때문에 테스트 할 부품의 임피던스가 떨어질 수  있습니다. 따라서 AICT와 AMS를 사용하여 V-I 커브를 확인해야 합니다. 검출할 SMD부품들은 SMD검출용 프로브(SMT Tweezer)를 사용하여(아래 사진) 테스트 할 수 있습니다

     
    • 왼쪽 V-I 곡선의 현재 임피던스 설정은 100 Ohm이며 10 Ohm 저항을 측정한 결과이기 때문에 좀더 수직으로 된 곡선을 표시합니다. 만일 100 Ohm을 측정할 경우에는 45도의 곡선 라인으로 표시될 것입니다. 
    • 순수한 저항을 측정하기 위해서는 폐회로를 만들어줘야 합니다.
     
     
    • 위 그림은 V-I 형상을 측정한 결과입니다. 곡선의 분석에 의해 저항 소자의 양단을 연결하여 검출된 곡선 부분의 타원형 단면부는 IC 소자 내부 임피던스의 반응 결과입니다. 앞으로 이 검출 방법을 사용 할 수 있습니다.
     위의 회로보드 부품 대부분의 측정방법은 SYSTEM8 소프트웨어에 의해 생성된 이미지와 테스트 결과로 정밀 검사, 메시지 정보, 신호의 변화 측정하는 과정에서 더 자세히 알 수 있습니다.  문제 부품을 검출하는 과정에서 때때로 인인을 찾기 위해 이러한 정보를 자세하게 관찰해야 할 필요도 있습니다.
     
     회로 측정 및 점검 결과로부터 오류 검출 
     
    지금까지 측정과 시험을 통해 다음 세가지 부품의 오류를 검출할 수 있었습니다.
    74LS393 (U6) - 기능 테스트 결과, QA의 출력 신호가 올바르지 않습니다. 또한 테스트 결과의 파형의 첫 번째와 두 번째가 다르기 때문에 이 부품에 문제가 있을 수 있습니다.
    74FCT244 (U16) - 테스트 결과로 이 부품은 불안정한 상태를 나타내며, 결과적으로 이 부품의 출력 신호가 다른 부품의 출력 신호와의 충돌 때문일 수 있습니다. 또한 12번핀의 출력 신호는 표준 로직 레벨에 맞지 않았습니다.


    74HCT14 (U16) - 테스트 결과로 이 부품은 불안정한 상태를 나타내며, 12번핀의 출력신호는, 어떠한 이유로 입력전압 3V가 전달되지 않아 신호 타이밍이 정확하지 않습니다. 결과는 일반적인 기능테스트(AGTG)를 생성하는 타이밍을 사용하였습니다.



    보드마스터를 이용한 고장 진단 요약 
    이 보드는 기본적으로 PCI 통신 신호로 RS232/RS422 인터페이스 회로 보드입니다. 두 그룹의 전원 컨버터에 의해 내부 5V 전원공급을 분리합니다. 이것의 노이즈 방지를 위한 것입니다. 사전 검사 공정에서 입력전원 공급하는 동안 이상한 소음 또는 냄새에 관한 비정상적 부품 손상을 확인하지 못했습니다.

    이 회로 보드 테스트는 두 개의 다른 전원 공급장치 및 포토 커플러 부품을 검출하는 방법에 초점을 맞추었습니다. 회로 보드의 경우 전체의 90%가 디지털 회로와 아날로그 부품 소자로 구성되어 그 기능은 정상 부품과 비교해 쉽게 식별될 수 있었습니다. 

    경험에 따르면, 초기 회로보드의 고장 검출 시간이 처음에는 약 3시간정도 소요되지만 그 다음부터는 동형의 보드에 대해서는 1시간도 되지 않은 시간에 검출테스트 작업을 완료할 수 있습니다. 이는 시험과정에서 시험에 필요한 파라미터(설정 값)과 시험 결과를 저장해 놓음으로써 양품의 보드와 비교할 수 있는 데이터를 확보해 놓을 수 있기 때문입니다.
     
    위의 시험에서 사용했던 시험 기능을 지원하는 장비는 다음과 같습니다.

    Advanced IC Tester (디지털 IC 시험) – ATM
    Advanced Graphical Test Generator – ATM 모듈
    Variable Power Supply – VPS 모듈
    Analogue V-I Curve Tester – AICT 또는 AMS 모듈
    Analogue IC Tester (아날로그 IC 시험) – AICT 모듈
    Digital Oscilloscope – MIS 모듈
    Dual Channel Digital Multimeter – MIS 모듈 

    유지보수 및 리페어, 점검 작업에서 엔지니어는 자신만의 테스트 기술을 갖고 싶어하고 부품이 정상 부품인지 불량부품인지 확인하기 위해 반복적으로 테스트를 수행하면서 점검 노하우를 축적시키기 위해 노력합니다. 

    사실, 정상 보드와 회로도 없이 고장을 검출하고 수리하기는 쉽지 않습니다.  계측 장비의 기능 뿐만 아니라 이를 활용하는 엔지니어의 경험과 기술 능력이 매우 중요하기 때문입니다.  ABI에서 설계한 SYSTEM8 고장 분석 장비는 많은 기능을 테스트 할 수 있어 엔지니어에게 매우 유용한 장비 입니다. 위 수리 사례의 경우 회로 보드의 한 부분으로 RS232와 RS422 통신 신호 및 그 신호의 작동 원리를 이해해야 하며, 포토 커플러의 검출방법을 알 수 있습니다. 

    이 두 부분에서 동일한 기능 부품 또는 유사한 구조의 다른 보드도 쉽게 찾아 낼 수 있습니다. 또한, 테스트 시간을 상당히 줄일 수 있습니다.

    엔지니어는 과거의 경험이 있기 때문에, 동일한 기능을 테스트 할 수 있습니다. 그것은 크게 노화/고장 부품의 검출 시간을 줄일 수 있습니다. 또한, 소프트웨어는 파형을 저장하여 비교할 수 있고, 작업내용을 기록할 수 있습니다. 동일한 회로보드에 대해 과거의 저장 결과와 측정한 것의 비교를 통해 고장 검출 작업을 매우 신속하게 수행할 수 있습니다. TEST-FLOW 기능은 시험결과와 시험을 위한 설정을 저장시킬 수 있고 원격지의 다른 동료들과도 TEST-FLOW를 공유할 수 있으므로 조직내의 생산성을 높일 수 있는 혁신적인 방법입니다.

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