г. Томск, ИФПМ СО РАН 09 – 11 февраля 2010 года                   

 

Программа семинара «Контроль качества сталей, сплавов, руд и

других материалов с использованием современных методов анализа»

 

Вторник, 09 февраля

Оборудование и современные методы контроля качества  структуры и твердости материалов при проведении материалографических исследований на макро -,  микро - и нано-уровнях.

 

09.00 Регистрация участников. Кофе-брейк.

09.30 Открытие семинара. 

                     Директор ИФПМ СО РАН профессор Псахье Сергей Григорьевич

                     Начальник отдела физико-механических испытаний «Мелитэк» Ильин Владимир Владимирович

10.00 Презентация компании «Struers A/S» (Дания).

докладчик: Jesper Svensson, Синюков Александр Владимирович

10.20 Комплекс современного материалографического оборудования фирмы «Struers A/S».

          Обзор оборудования и методов подготовки.

докладчик: Синюков Александр Владимирович

11.00 Перерыв

11.10 Оптические микроскопы фирмы «Olympus» (Япония) и системы анализа изображения.

докладчик: Калинченко Антон Владимирович

11.45 Современные  системы для контроля микротвердости и твердомеры компании «EmcoTest» (Австрия).

докладчик: Синюков Александр Владимирович

12.15 Использование современных приборов ЦКП ИФПМ СО РАН «НАНОТЕХ» для решения задач физического материаловедения: исследования структуры, физических свойств металлов и сплавов и пробоподготовки образцов.

докладчик: Мейснер Людмила Леонидовна, д.ф.-м.н.

12.30 Обед

14.00 Комплекс оборудования фирм «Olympus» и «Nanovea» для исследования материалов

в нано метровом диапазоне.

докладчик: Калинченко Антон Владимирович

15.00 Демонстрация оборудования

Отрезной станок Secotom-10, Шлифовально-полировальный станок TegraPol фирмы Struers

Твердомеры Duramin-5 и Duramin-500 фирмы EmcoTest

Микроскоп BX-51 фирмы Olympus

 Среда, 10 февраля

Современное испытательное оборудование для контроля физико-механических свойств материалов.

 

09.00 Регистрация участников. Кофе-брейк.

09.30 Модельный ряд и область применения испытательных машин для конкретных задач и                      отраслей промышленности фирмы Walter + Bai AG.

докладчик: Ильин Владимир Владимирович

11.00 Перерыв

11.10 Примеры применения испытательной техники на различных предприятиях.

докладчик: Ильин Владимир Владимирович

12.40 Расширение возможностей оборудования для механических испытаний за счет оптико-телевизионных систем наблюдения.

докладчик: Горбатенко Вадим Владимирович, к.ф.-м.н.

13.00 Перерыв. Кофе-брейк

13.30 Демонстрация испытательной машины фирмы Walter+Bai

Четверг, 11 февраля

 

Современные оптико-эмиссионные и рентгенофлуоресцентные спектрометры, дифрактометры и  CS/ONH анализаторы  для контроля качества химического и фазового состава материалов.

 

09.00 Регистрация участников. Кофе-брейк.

09.30 Вступительное слово о компании Bruker AXS.

докладчик: Ревенко Вячеслав Анатольевич

09.45 Модельный ряд и основные технические характеристики портативных рентгенофлуоресцентных анализаторов фирмы Bruker AXS Handheld.

докладчик: Ревенко Вячеслав Анатольевич

10.10 Современные рентгеновские спектрометры компании Bruker AXS.

докладчик: Ревенко Вячеслав Анатольевич

11.00 Перерыв.

11.15 Особенности определения состава материалов рентгенофлуоресцентным методом.

докладчик: Колубаев Александр Викторович, д.ф.-м.н.

11.35 Рентгеновский дифракционный анализ фирмы Bruker AXS.

докладчик: Ревенко Вячеслав Анатольевич

12.10 Современные оптико-эмиссионные анализаторы металлов фирмы Bruker Elemental.

докладчик: Ионов Дмитрий Айратович

13.00 Обед.

14.00 Современные анализаторы газов и легких элементов в твердых материалах фирмы Bruker Elemental.

докладчик: Ионов Дмитрий Айратович

15.00 Демонстрация оборудования

Волнодиспрерсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр S4 PIONEER

Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор S1 TURBO ^SD LE

  

ЗАО «БНС»: 630099 Новосибирск, Щетинкина, 34-21. Тел/факс (8383)218-10-79, 210-24-79

E-mail: bns@ngs.ru   www.firma-bns.ru